日立分析仪器涂层测厚仪

日立分析仪器拥有一系列应用于金属表面厚度检测的涂镀层测厚仪，既能检测铁基材料也能检测非铁基材料

日立分析仪器拥有一系列应用于金属表面厚度检测的涂镀层测厚仪，既能检测铁基材料也能检测非铁基材料。

日立分析仪器镀层测厚仪是基于X射线荧光技术所开发，可快速提供单层或多层分析，对合金成分进行定量分析，优化电镀液控制的金属离子含量分析。

镀层测厚仪的典型应用包括汽车制造、油漆和粉末涂料制造、电镀厂与PCB面铜管铜测厚。

对于金属镀层测厚的解决方案、相关配件及耗材现都可在网络上快速获取范围的售前售后服务与技术支持。

日立分析仪器镀层测厚仪不仅仅有台式X荧光光谱仪Eco系列、MAXXI系列、X-Strata 920，还有方便易用的便携式CMI系列镀层测厚仪。

日立分析仪器镀层测厚仪功能强大、性能可靠且操作简单，基于能量色散型X射线荧光光谱（XRF）所开发，可确保品质的同时降低成本。