LuQY Pro ELQY/PLQY量子产率及QFLS测试仪

LuQY Pro是市场上功能广泛，强大且易于使用的absolute发光分析系统。其创新和高度集成的理念设计允许在鞋盒大小的设备上进行absolute光致发光PLQY和电致发光测量ELQY,计算准费米能级分裂QFLS、iVOV。因此，该系统专注于光电器件优化（LED、太阳能电池等），并可以精确模拟各种工作点位。

LuQY Pro是市场上功能广泛，功能强大且易于使用的absolute发光分析系统。其创新和高度集成的理念设计允许在鞋盒大小的设备上进行absolute的光致发光和电致发光测量。因此，该系统专注于光电器件优化（LED、太阳能电池等），并可以精确模拟各种工作点位。

综合分析

我们的使命是让每个研究者都能轻松进行absolute发光分析。LuQY Pro包含一个软件，不仅可以让您控制仪器并记录样品的发射光谱，还可以立即计算发光量子产率（LuQY），以及样品的暗指VOC。这种集成的深入数据分析在市场上是仅有的，并释放了LuQY Pro的全部潜力。

在开发LED或太阳能电池等光电器件时，提高其辐射效率至关重要。这需要精确的技术来确定发光量子产率。LuQY Pro是一款易于使用，非破坏性性和多功能的系统，具有紧凑性，可在各种操作条件下快速量化薄膜吸收体，堆叠或完整器件的EL / PLQY和iVOC（QFLS）。LuQY Pro 系统和布局

快速量化半导体薄膜和器件的电致发光和光致发光（EL和PL）的absolute光子通量

USB-“即插即用”：随附的软件记录发射光谱并直接计算EL / PL量子产率（PLQY）和暗指Voc（iVoc）

小巧便携的布局允许灵活使用，例如在手套箱中

一键式测量 EL / PLQY

来自稳态EL/PL光谱（550-1050 nm）的光子absolute数量

自动、连续可调的激光强度，从 0.001-10“太阳”

通过集成的源测量单元（SMU）进行电流/电压偏置和检测

EL / PLQY 灵敏度范围：1E-4 %

软件

absolute光子通量测量

记录单个或多个EL / PL光谱，预设激光强度，电压和电流偏置

立即计算EL / PLQY和iVoc

自动测量扫描

变化激光强度、偏置电压和电流，并确定每个工作点的absolutePL/EL光谱、EL/PLQY和iVoc。

Applications

质量评估

质量评估，用于在每个制造步骤后进行快速过程控制，或加速材料和工艺参数筛选

瞬态效应

快速采集可解析发射光谱和强度以及EL / PLQY和iVoc的变化，时间尺度从10毫秒到几小时不等。

解决块体和界面复合

量化半导体薄膜、堆叠或完整器件（如太阳能电池或 LED）中的体和界面复合损耗。

学术例子可以在 [1-6] 中找到。

效率潜力和损失机制

深入分析半导体薄膜、堆叠或完整器件中的效率潜力和损耗机制，例如通过根据强度和/或偏置电压依赖性EL / PLQY和iVoc确定理想因子和伪JV曲线。另请参阅 [7-9]

Technical Specifications 技术参数

Current-voltage source and measure unit (SMU) max. ratings

+/-10 V, +/-150 mA

Max. sample dimensions (L x W, unrestricted height)

30 x 30 mm

Max. no. of contactable subcells on sample by integrated relais box

6 subcells

Photoexcitation intensity (continuously adjustable)

0.001 – 10 “Suns”

Photoexcitation wavelength

532 nm

Photoexcitation spot size (interchangeable)

0.1 cm² / 1 cm²

Spectral detection range

550 – 1050 nm

Quantum yield sensitivity range

10-4 – 99.9999%

Corresponding min. resolvable iVoc for 1.6 eV absorber band gap

1.0 V

Spectrometer integration time

1 ms – 65 s

Dimensions (L x W x H)

220 x 275 x 120 mm³

Weight

4.7 kg

Connectors

1x DC, 1x USB 3.0