LODAS 晶圆缺陷检测系统
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- 公司名称 北京欧屹科技有限公司
- 品牌
- 型号 LODAS
- 所在地 北京市
- 厂商性质 代理商
- 更新时间 2022/3/4 16:26:32
- 访问次数 751
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可一次性检查第三代半导体 SIC 等材料表面,背面和内部的缺陷,可探测最小缺陷为100 纳米,主要用于半导体光罩、 LCD 大型光罩的石英玻璃表面、内部、背面的缺陷检查 。
列真公司在半导体光罩检测设备上积累了独自技术, 主产品 LODAS ™系列具有日本的激光检测技术,可同时探测收集激光的反射光,透射光以及共聚焦,可一次性检查第三代半导体 SIC 等材料表面,背面和内部的缺陷,可探测最小缺陷为100 纳米,主要用于半导体光罩、 LCD 大型光罩的石英玻璃表面、内部、背面的缺陷检查 。将此项技术运用于第三代半导体材料的缺陷检查,将提升量产成品率将具有重要意义。
应用: SiC、GaN
半导体光罩(石英玻璃与涂层)、
石英Wafer Si Wafer
HDD Disk LT Wafer
蓝宝石衬底、
EUV光罩、
光罩防尘膜
可全面检测 表面、内部、背面的缺陷
外延缺陷
胡萝卜型缺陷
彗星缺陷
三角缺陷
边缘缺陷
衬底缺陷
微管缺陷
层错缺陷
六方空洞缺陷
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