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SR-750是一款基于典型的Czerny-Turner光路结构的高分辨率光谱仪。结合创新型的光学器件设计，SR-750配合Andor公司的各型高性能光谱CCD/ICCD，可以非常方便进行空间多点光谱的同时采集与测量。
SR-750是一款基于典型的Czerny-Turner光路结构的高分辨率光谱仪。结合创新型的光学器件设计，SR-750配合Andor公司的各型高性能光谱CCD/ICCD，可以非常方便进行空间多点光谱的同时采集与测量。
SR-750可以配用多种附件，拓展应用领域，在透射/反射/吸收光谱、Raman光谱、荧光光谱、激光诱导解离光谱等实验中，提供*的系统解决方案。
SR-750的主要技术指标：
| 焦距长度 | 750mm |
| 通光孔径 | f/9.8 |
| 焦平面尺寸 | 28mmX14mm |
| 光谱分辨率 | 0.03nm |
| 波长重复性 | ±0.05nm |
| 光栅尺寸 | 68mmX68mm |
| 光谱仪外观尺寸 | 860mmX393mmX213.5mm |
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