TSD-150F-2P 电路芯片吊篮式冷热冲击试验箱快速循环测试

电路芯片吊篮式冷热冲击试验箱快速循环测试
两槽式冷热冲击箱区别与传统的三槽式，是利用低温及高温蓄冷热槽，将吊篮（放置实验产品）快.速移动到冷热槽内，从而达到快速温度冲击效果.其温变迅速，冲击严酷独立开发控制器，人机对话友好，可依照要求扩充程式量保留历史实验记录，及数据.有各种吊蓝尺寸及冲击温度范围可选（ -40° C、-55° C、-65*C）。 尤其适用于IC、 电感、磁珠、

电路芯片吊篮式冷热冲击试验箱快速循环测试

两槽式冷热冲击箱区别与传统的三槽式，是利用低温及高温蓄冷热槽，将吊篮(放置实验产品)快.速移动到冷热槽内，从而达到快速温度冲击效果.其温变迅速，冲击严酷独立开发控制器，人机对话友好，可依照要求扩充程式量保留历史实验记录，及数据.有各种吊蓝尺寸及冲击温度范围可选( -40° C、-55° C、-65*C)。 尤其适用于IC、 电感、磁珠、电路板等

吊篮式高低温冲击试验箱怎么选两箱式冷热冲击试验机用于测试零部件承受温度迅速变化之耐力,该产品即适用于质量控制的实验室又可满足生产过程中筛选商用和产品，充分吸收国内外同美产品优点，采用两箱移动式上下结构， 上箱体为高温箱，下箱体为低温箱，也可根据用户要求设计，制造左、右结构的两箱式温度冲击试验箱。

电路芯片吊篮式冷热冲击试验箱快速循环测试

两箱冷热冲击试验箱特点:

◆此设备分为高温区、低温区两部分，测试产品置于提篮中，冲击时提篮将测试产品移进高温区或低温区进行冲击测试

产品为动态式。

◆造型设计，并采用LC触摸 屏温湿度控制器，中英文界面，操作简易。

冲击方式采用试验篮上下移动方式，将测试产品移进高温区或低温区进行冲击。

◆高温冲击或低温冲击时，大时间可达999H，大循环周期可达9999次。

◆冷热冲击移动时间在10秒内，可符合MIL、 IEC、JIs等 规范。

◆冷热冲击温度恢复时间在5分钟内，可符合相关试验规范。

系统可作自动循环衙擎或手动选择性冲击。

◆采用HFC环保冷媒，二元超低温冷冻系统设计， 降温快、效率高，冷却方式为水冷式。

不可以试验冲击常温

安装场所

为了便于箱体散热及维护保养，安装本设备的场所必须符合下列条件：

1、与相邻的墙壁或器物之间的距离300mm

2、为了稳定的发挥试验箱的功能、性能，应选择常年温度为15~35℃，相对湿度大于85%的场所。

3、安装场所的环境温度切忌急剧变化。

4、应安装在水平面上（安装时应用水平仪在地面上确认水平）。

5、应安装在无直射阳光的场所。

6、应安装在通风良好的场所。

7、应安装在远离可燃物、爆炸物及高温发热源的地方。

8、应安装在灰尘少的场所。

9、尽可能地安装在靠近供电电源的场所。

致客户们：

本试验箱是定制产品，因各行业需求不同，执行相关标准是不一样的，试验箱实际价格以我司销售工程师根据客户要求所做的报价方案为准，欢迎大家咨询客服，进一步了解详细的产品规格书和正式报价。