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Particle Analysis Systems

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产品简介:颗粒的测量与分类,用以监测和记录制造工艺的清洁度。 根据通用工业标准运用全集成式模块化系统进行数据记录

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简化日常工业应用中的质量控制工作

蔡司颗粒度分析系统为质量控制领域的清洁度和油液分析应用提供专业解决方案。您能够获得可靠、独立于用户且可重复的结果。轻击几下鼠标,便可完成输入项目数据、创建报告及归档分析结果等操作。同时,Particle Analyzer 还能与蔡司 AxioVision 软件系列无缝集成。通过执行辅助关联显微镜颗粒度分析,获取更多细节信息,如表征元素和材料。


定量分析颗粒污染物

清洁度

专用于定量分析颗粒污染物的蔡司系统符合 ISO 16232、VDA 19 和企业内部标准。 SteREO Discovery.V8 可以测量尺寸小至 25 µm 的颗粒。对于尺寸小至5 μm 的颗粒,则使用 Axio Zoom.V16 全自动显微镜。

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使用蔡司油液分析系统定量分析颗粒污染物。Axio Imager 2 适用于测量尺寸小至 2 μm 的颗粒。蔡司油液分析系统符合 ISO 4406、ISO 4407、SAE AS 4059 和企业内部标准。

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纳米级和关联颗粒度分析

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蔡司颗粒度分析系统能够分析滤膜上的颗粒,并让您获得材料化学组份的更多信息。使用电子显微镜和 SmartPI 软件全自动分析多达 200,000 个颗粒。Correlative Particle Analyzer 系统是将光学显微镜与电子显微镜两者的分析数据相结合的较好解决方案,符合 ISO 16232 和 VDA19 标准。



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