CMI165 英国牛津仪器Oxford 在线检测面铜厚度仪膜厚仪
参考价 | 面议 |
- 公司名称 深圳市方源仪器有限公司
- 品牌
- 型号 CMI165英国牛津仪器Oxford
- 所在地
- 厂商性质 经销商
- 更新时间 2021/7/25 10:14:56
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参考价 | 面议 |
深圳市方源仪器有限公司提供在线检测面铜厚度仪膜厚仪。一直以来,面铜测量的结果往往受到样品温度的影,牛津仪器工业分析部研发的SRP-T1探头,在线检测面铜厚度仪膜厚仪综合运用微电阻原理及温度补偿技术,使其成为世界上头个推出带温度补偿功能的铜箔测厚仪的制造商。确保测量结果**而不受铜箔温度的影响。
在线检测面铜厚度仪膜厚仪
深圳市方源仪器有限公司提供在线检测面铜厚度仪膜厚仪。一直以来,面铜测量的结果往往受到样品温度的影,牛津仪器工业分析部研发的SRP-T1探头,综合运用微电阻原理及温度补偿技术,使其成为世界上头个推出带温度补偿功能的铜箔测厚仪的制造商。确保测量结果**而不受铜箔温度的影响。
在线检测面铜厚度仪膜厚仪产品示意图:
产品名称 | 在线检测面铜厚度仪膜厚仪 |
型号 | CMI165 |
品牌 | 英国牛津仪器Oxford |
用途 | 测试高/低温的PCB铜箔,专为PCB铜箔制造商设计 |
测试原理 | 利用微电阻原理通过四针式探头进行铜厚测量,符合EN 14571测试标准 |
测量范围 | 化学铜:(0.25-12.7)μm,(0.01-0.5) mils |
仪器再现性 | 0.08 μm at 20 μm (0.003 mils at 0.79 mils) |
探头 | SRP-T1 |
单位 | mils、um、oz |
统计数据显示 | 强大的数据统计分析功能,包括数据记录平均数、标准差和上下限提醒功能 |
电池 | AA*2 |
产地 | 美国 |
在线检测面铜厚度仪膜厚仪特点:
可测试高温的PCB铜箔
显示单位可为mils,μm或oz
可用于铜箔的来料检验
可用于蚀刻或整平后的铜厚定量测试
可用于电镀铜后的面铜厚度测试
配有SRP-T1,带有温度补偿功能的面铜测试头
可用于蚀刻后线路上的面铜厚度测试
用户可自行选择自动、连续、手动测量模式
SRP-1探针保护罩,照明功能便于测量时准确定位
SRP-1可由客户自行替换,替换后无需校准即可使用
仪器内存容量大,可储存9690条检测结果
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中国代理商:深圳市方源仪器有限公司
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