ECA-NY01 农艺形态测量仪

本仪器广泛的用于作物的育种、栽培研究工作，能够测量作物生长期的茎粗、株高、穗位、单叶面积、总面积果实大小等，测量数值直接保存在SD卡中，并有专业软件形成作物农艺形状调查表。 技术参数：1、有卡测量：读ID样品卡后自动识别样品2、无卡测量：26个英文字母及10个阿拉伯数字自由组合设定样品号；3、可以测量作物株高、株直径、穗位、穗长、叶片长、叶片宽、叶片面积等参数；4、大容量SD卡2G
产地： 中国

用途：

本仪器广泛的用于作物的育种、栽培研究工作，能够测量作物生长期的茎粗、株高、穗位、单叶面积、总面积果实大小等，测量数值直接保存在SD卡中，并有专业软件形成作物农艺形状调查表。

技术参数：

1、有卡测量：读ID样品卡后自动识别样品

2、无卡测量：26个英文字母及10个阿拉伯数字自由组合设定样品号；

3、可以测量作物株高、株直径、穗位、穗长、叶片长、叶片宽、叶片面积等参数；

4、大容量SD卡2G储存，最多可储存100万组测量数据，生成TXT文档，并可转化为Excl表格；

5、测量结束后可自动储存测量的日期、时间和相对应的样品号；

6、可以通过软件生成各种农艺测量报告表格；

7、测量范围：0-3000mm；精度：1mm；误差：1mm ；

产地：中国