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纹影仪
加拿大ResonanceGCSO2
Cryolab低温塞贝克效
光波导模式光谱仪OWLS
英国HI-TECHStoppedfl
沃泊指数分析仪
LAwave 是基于镭射声波原理测量涂层以及表面的一种精密测量仪器 应用领域: 硬模、半导体材料、薄型聚合物膜、传感器膜、等离子喷膜 测量数据: 测量以下材料的弹性模量 硬质和超硬模、金属膜、薄型聚合物膜、低K溶胶膜 大批量材料的弹性模量 膜厚 半导体材料的损伤程度 特点:无损伤检测 超硬超薄都能检测 检测整个面,并非某个点 可测膜范围广:从纳米到毫米 快速可靠 样品无需特殊处理 无需校正 作用: 薄膜沉积、涂层喷涂及成品材料表面的过程控制 薄膜和涂层机械参数的精确测量 膜材料上微结构的无损评估(如键合情况、多孔性和组成) 测探垂直于表面的弹性和密度梯度
LAwave 是基于镭射声波原理测量涂层以及表面的一种精密测量仪器
应用领域:
硬模、半导体材料、薄型聚合物膜、传感器膜、等离子喷膜
测量数据:
测量以下材料的弹性模量
硬质和超硬模、金属膜、薄型聚合物膜、低K溶胶膜
大批量材料的弹性模量
膜厚
半导体材料的损伤程度
特点:无损伤检测
超硬超薄都能检测
检测整个面,并非某个点
可测膜范围广:从纳米到毫米
快速可靠
样品无需特殊处理
无需校正
作用:
薄膜沉积、涂层喷涂及成品材料表面的过程控制
薄膜和涂层机械参数的精确测量
膜材料上微结构的无损评估(如键合情况、多孔性和组成)
测探垂直于表面的弹性和密度梯度
生物质颗粒燃烧热值仪
雷磁PHS-3E实验用台式
雷磁PHS-3C实验室台式
哈希Hach便携式浊度仪
哈希Hach便携式分光光
Roche罗氏UniversalSY
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