日本kett电磁膜测厚仪LE-373

主要规格

 

测量方式	电磁感应式
测量目标	磁性材料上的非磁性膜
测量范围	0-2500微米或99.0密耳
测量精度	小于50μm：±1μm，50μm或更大且小于1000μm：±2％，1000μm或更大：±3％
解析度	小于100μm：0.1μm，100μm或更大：1μm
符合标准	JIS K5600-1-7，JIS H8501，JIS H0401 / ISO 2808，ISO 2064，ISO 1460，ISO 2178，ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499，ASTM D 7091-5，ASTM E 376
数据存储器数	约39,000点
校准曲线记忆	应用程序存储器：存储100条校准曲线
探测	单点接触恒压型（LEP-J）
显示方式	数字（带背光的LCD，小显示数字为0.1μm）
外部输出	个人电脑（USB或RS-232C）
电源	电池1.5V（AA碱性）x 4
能量消耗	80mW（背光关闭时）
电池寿命	100小时（背光关闭时连续使用）
工作温度极限	0-40℃
附加功能	各种功能的16种类型
尺寸/质量	75（W）x 145（D）x 31（H）毫米，0.34Kg
配件	标准板（10μm，50μm，100μm，500μm，1000μm，1500μm，所有近似值，各1张），标准板盒，铁底座（FE-373），探头适配器，手提箱，电池1.5 V（AA碱）×4
选项	标准板（配件以外的厚度），测量架LW-990，计算机电缆，RS-232C-USB电缆，数据管理软件：“数据记录仪LDL-03”