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激光粒度分析仪( LT2200)

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LT2200加持了真理光学的衍射爱里斑反常变化(ACAD)的补偿修正技术的使用,使用户无需选择分析模式,即可在全粒径范围获得准确可靠的粒度结果;LT2200系列粒度仪还采用了真理光学的高速全息信号处理技术,测量速度可达每秒20000次,确保不漏检任何粒径和形状的颗粒; LT2200系列粒度仪的粒径范围为0.02um-2200um, 适用于制药,电池材料,地质,水文,化工和磨料等诸多行业的颗粒粒度分析。

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真理光学技术团队具有超过二十年的粒度表征及应用开发的经验,在享有很高的声誉。LT2200是真理光学基于多年的科研成果开发的新一代超高速智能激光粒度分析系统,其多项技术性能和指标均超过当前激光粒度仪的水平,成为当今粒度仪市场具有*性价比的产品。

 

 

 

LT2200加持了以下多项创新和技术:

 

◆ 偏振滤波技术

◆ 衍射爱里斑反常变化(ACAD)的补偿修正技术

◆ 斜入射反傅里叶光路配置

◆ 格栅式大角度检测阵列技术

◆ 粒度分析模式优化及自适应技术

◆ 连续液位感知及控制技术

◆ 高灵敏度光能跟踪及稳定技术

 

LT2200光学测量系统的性能还包括:

◆ *符合ISO13320衍射法测量技术标准

◆ *的光路配置,超大连续的物理测量角度
◆ 改进型反演算法,用户无需选择“分析模式”,兼顾*的分辨率和稳定性
◆ 无需更换透镜,无需使用标准样校准,量程范围达到0.02微米至2200微米
◆ 采用全息信号同步处理技术,实时测量速度达每秒20000次,不漏检任何形状和分布颗粒的衍射信息
◆ 采用自动温度恒定技术的超高稳定固体激光光源系统,*克服了氦氖气体激光器预热时间长,使用寿命短的缺点
◆ 采用偏振空间滤波技术,*摒弃导致机械和热稳定性差的针孔滤波器

项目指标
测量原理激光衍射
光学模型全量程米氏理论及夫朗霍夫理论可选
粒径范围0.02μm-2200μm,无需更换透镜,不依赖标样校准
检测系统包含格栅式超大角度,非均匀交叉面积补偿检测器阵列及高灵敏度后向散射检测单元
测量池平行斜置
光源集成恒温系统的638nm,20mW固体激光器
空间滤波方式非针孔式偏振滤波技术
光学对中系统智能全自动
测量时间典型值小于10秒
测量速度可达20000次/秒
准确度Dv50优于±0.6% (NIST可溯源乳胶标样)
重复性Dv50优于±0.5% (NIST可溯源乳胶标样)
激光安全1类激光产品
计算机配置In i5处理器,4GB内存,250GB硬盘,鼠标,键盘和宽屏显示器
计算机接口USB2.0或以上
软件运行平台Windows7或以上专业版
操作环境温度5℃-40℃
操作环境湿度10%-85%相对湿度(无结凝)
电源要求交流220V,50Hz-60Hz,标准接地
光学系统重量31kg
光学系统尺寸670mm x 275mm x 320mm

 


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