ELEMENT 等离子发射光谱仪

ELEMENT 等离子发射光谱仪，在痕量元素定量分析方面，ICP-MS 严重的限制是对元素信号的多原子干扰。高质量数分辨率是消除这些干扰的金标准，可在痕量水平上准确可靠地进行多元素定量分析，样品制备步骤极为简便。

ELEMENT 等离子发射光谱仪

ELEMENT 系列 ICP-MS

您可以从两种高性能，双聚焦扇形磁场 Thermo Scientific™ ELEMENT™ 系列 ICP-MS 仪器中选择，这些仪器针对易用性、稳定性和分析效率进行了优化。ELEMENT 2™ ICP-MS 提供强大的技术来解决特定问题，同时具备优异的灵敏度和信噪比。Thermo Scientific ELEMENT XR™ ICP-MS 结合法拉第检测器与双模式 SEM 检测器将 ELEMENT 2 ICP-MS 的线性动态范围扩展了三个数量级。

描述

在痕量元素定量分析方面，ICP-MS 严重的限制是对元素信号的多原子干扰。高质量数分辨率是消除这些干扰的金标准，可在痕量水平上准确可靠地进行多元素定量分析，样品制备步骤极为简便。

多元素分析

多元素检测器可处理瞬变信号，包括 HPLC、GC 和激光消融。

元素周期表中的无干扰测量涵盖基质组分（mg∙L-1）和超痕量元素（低于 1 pg∙L-1）。

较高灵敏度 ICP-MS（低分辨率时）。

灵活性和可用性

高质量数分辨率可获取谱干扰同位素，生成清晰的元素谱

对无干扰或受干扰同位素进行高精度同位素比分析。

热等离子体和冷等离子体状态。

ELEMENT XR ICP-MS

宽线性动态检测范围对于 ICP-MS 来说至关重要，因为其允许通过单次运行分析较宽的浓度范围。

集成式法拉第检测器的特性：

采样时间低至 1 ms。

测量高强度峰后无需衰减时间

SEM 和法拉第之间自动切换，延迟时间为 <1 ms。

不同检测器模式之间的线性交叉范围较宽（>2 个数量级），允许准确进行自动交叉校正。

动态范围为 0.2 cps（SEM）到 >1 x 1012 cps（法拉第）。

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