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I100 纳米压痕仪

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主要用于纳米尺度薄膜材料的硬度与杨氏模量测试,测试结果通过压入载荷大小与压入深度的曲线计算得出,无需通过显微镜观察压痕面积

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美国NANOVEA纳米压痕测试仪
美国NANOVEA公司是一家*的压痕测试仪的革新者,生产的压痕测试仪是目前上用在科学研究和工业领域的设备,主要应用在:半导体技术钝化层、镀金属、Bond Pads);存储材料磁盘的保护层、磁盘基底上的磁性涂层、CD的保护层;光学组件*头、光纤、光学刮擦保护层;金属蒸镀层;防磨损涂层(TiN, TiC, DLC, 切割工具;药理学药片、植入材料、生物组织;工程学油漆涂料、橡胶、触摸屏、MEMS)等行业;
特点:主要用于纳米尺度薄膜材料的硬度与杨氏模量测试,测试结果通过压入载荷大小与压入深度的曲线计算得出,无需通过显微镜观察压痕面积,
·*符合ISO14577ASTME2546
·光学显微镜自动观察
·*的热漂移控制技术
·可测量硬度、杨氏模量、压入深度-载荷的曲线图、弹塑性、蠕变性能等力学参数
·适时测量载荷大小
·采用独立的载荷加载系统与高分辨率的电容深度传感器
·快速的压电陶瓷驱动的载荷反馈系统
·双标准校正:熔融石英与蓝宝石
技术参数

载荷范围
400mN(800mN,1600mN可选
0.03μN
深度范围
250μm
深度分辨率
0.003nm
热飘逸
<0.05nm/s
zui大摩擦力
400mN
Sinus 模式分析(DMA)
20HZ


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