PI-85 I-85型纳米压痕仪（SEM——扫描电子显微镜）

PI-85纳米压痕仪可以集成在扫描电子显微镜（SEM）里的一个深度控制纳米力学检测仪系统。通过这个系统能够同时进行量化纳米力学性能检测和SEM形貌观察。

            Picoindentor 85 原位纳米压痕仪

PI-85是可以集成在扫描电子显微镜（SEM）里的一个深度控制纳米力学检测仪系统。通过这个系统能够同时进行量化纳米力学性能检测和SEM形貌观察。 耦合这两种技术可使研究人员非常精确地定位探头，并且可使研究人员使用SEM图像记录测试材料的整个变形过程。

PI-85是可以集成在扫描电子显微镜（SEM）里的一个深度控制纳米力学检测仪系统。通过这个系统能够同时进行量化纳米力学性能检测和SEM形貌观察。 耦合这两种技术可使研究人员非常精确地定位探头，并且可使研究人员使用SEM图像记录测试材料的整个变形过程。达到“可远观亦可亵玩”目的。