当前位置:仪器网 > 产品中心 > 行业专用仪器>其它行业专用仪器/仪表>其他行业专用> X射线CMOS平板探测器
返回产品中心> 产品介绍: 1412HR-NDT是一款大面积的平板X射线探测器专门设计的用于无损检测系统和科学成像应用,它的基本结构为一个数字化的CMOS芯片粘接到radiation-hard的光纤面板(FOP)一侧,FOP另外一侧直接连接一块厚度为250 µm CsI的闪烁体。 探测器像素尺寸为50µm,分辨率为2800×2400,14bit数字化输出,具有两种增益模式,通过选择像素的增益,探测器可以工作于低噪声单发模式和高灵敏度实时模式。全分辨率读出帧率高达29FPS,非常适用于实时监测和工业CT。可设置的感兴趣区域,使得探测器可以在更高的帧率下工作,在4cm的区域下帧率高达90fps。像素尺寸 50μm×50μm 小ROI尺寸 2 rows 分辨率 2800×2400 读出结构 卷帘快门 有效区域 14cm×12cm 传感器温度范围 -20℃-100℃ 传感器类型 CMOS数字传感器,14bit 无损读出模式 可选 增益模式 高增益(快曝光)
低增益(低剂量)同步接口 Sync in(TTL), sync out(opto-
switch), SMB sockets闪烁体 250μm CsI 触发模式 连续/软件触发/硬件触发
(同步输入)/自动触发窗口材料 碳纤维,并标记有效探测区域 接口 USB 3.0 C type 大帧率(全帧) 29fps 功耗 3.5W 大帧率(ROI模式) 14μs/row 工作温度 0-60℃
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