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返回产品中心> 公司介绍: 德国Incoatec公司在基于薄膜技术的X射线光学器件方面拥有20年以上的经验。Incoatec公司的光学器件被用于*的X射线衍射测量、光谱测定和同步加速器射束线上。主打产品包括用于各种领域和针对微焦点光源方案的多层X射线光学器件。用新的光学器件和X射线源来升级X射线分析设备。计算机化的光学器件模拟、各类衬底的生产和薄膜表征使INCOATEC的服务更为完善,为重工业,化学,制药,半导体产业,生命科学和纳米技术提供解决方案,是可靠,高效和用户友好型产品,具备德国制造的精髓。 产品介绍: 由狭缝造成的寄生散射是X射线分析中是*的问题,用户和制造商不得不调整实验装置以避免这种现象。更低光子通量造成实验时间增加,更大光束截捕器造成分辨率下降,额外配置防散射针孔造成光束塑形针孔到样品距离增加,以及总体更低信噪比造成数据质量下降。 新型SCATEX针孔基本不产生寄生散射,并且克服了上述问题: 因此,防散射针孔可被移除,系统尺寸缩小,分辨率与光子通量提高,数据质量得到改善。 产品特点: 无针孔寄生散射 分辨率与光子通量增强 针孔的调整校准更加简便快速 无需放散射针孔 可提供特殊的解决方案 同步辐射以及家庭实验室SAXS系统成功验证 基本参数: 应用介绍: 常规实验室系统上的应用 常规实验室中的SAXS仪器通常使用三针孔准直系统,其中前两个针孔用于限定光束的大小与发散角, 第三个针孔充当防辐射针孔以用来吸收孔径产生的寄生散射,如下图所示。 与此相反,SCATEX针孔在常规实验室SAXS装置应用中具有很高的潜力,因为其提高光子通量同时降低主光速路径长度。下图中体现了SCATEX针孔大幅度抑制寄生散射。 Fig.2 Comparison of a conventional Pt/Ir pinhole and a SCATEX-Ge pinhole, both with 300 μm diameter. Measurement time: 100 s. 图中的两种类型针孔(即市售Pt/Ir常规针孔和SCATEX锗针孔),其大小相同(均为300μm),其后的成像效果都是在同样的没有放置防辐射针孔的两针孔SAXS设备条件下进行的。所测试的孔被在一次束并作为光束限定针孔居中地对准。 同步辐射上的应用 无散射锗针孔 以下测试都是C.Gollwitzer在同步辐射(BESSY II)的PTB的具有四晶体单色器光束线站上进行,其输出能量为8kev,光通量大于1010ph/s。所有的测试针孔作为光束限定针孔被放置于主光束中心进行校准,同时没有使用防辐射针孔。 下面对不同的针孔进行了比较: 1、铜箔的500μm针孔;2、市售的500μmPt/Ir针孔;3、锗制SCATEX针孔。即使在10倍的测量时间下,SCATEX针孔引起的寄生散射少2- 3个数量级。由于SCATEX针孔优异的结构质量,其展示了在更高Q值空间散射的减少和环形的散射图案。 Fig.3 Scattering intensity vs. q-plot. Data are corrected for respective exposure times and normalized to the primary beam photon flux and to the solid angle.材质 单晶锗(Ge) 单晶钽(Ta) 孔径 20-3000 um 100-2000um
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