叶片光谱探测仪CI-710

主要功能
   非常便携，适合于室内或野外使用
  非破坏性精密地测量叶片在400～950nm波长范围内的反射率、透射率和吸收率
   扫描速度快，灵敏度高
   USB接口连接UMPC数据处理终端
   样品类型，叶片或扁平的物体
测量参数
   可以定性、定量的研究叶片内各组分叶绿素a或b、蛋白质、糖、矿物质等含量及比例变化
   测量叶片的透射率、吸收率和反射率
   有29中计算参数，CNVDI、NVDI、ARVI等参数
应用领域
   叶片光谱分析仪CI-710功能强大，可以非破坏性测量叶片的透射光、吸收光、反射光光谱；通过光谱直
观分析有关叶片的组份。它广泛的应用在植物叶片光合作用、植物遗传特性、植物胁迫生理、植物病
理等方面研究。
主要技术参数
   尺寸：89.1 x 63.3 x 34.4 cm
   重量：290g
   存储环境：-30°-70°
   操作环境：-10°-50°，0%-90%（非结露）
   叶片面积：10×20mm
   采样直径：7.6 mm
检测器
   检测器：TCD1304AP线性阵列探测器
   扫描波长范围：400～950 nm
   像素：3648
   像素大小：8um×200um
   像素深度：100000
   信噪比：300:1
   模数转换分别率：16位
   暗噪音：50
   线性修正：>99.8%
   敏感性：130光子（在400nm），60光子（在600nm）
分光计
   光学分辨率：0.3～10.0nm FWHM
   积分时间：3.8ms-10s
   动态量程：2×106（系统），1300:1（单次采集）
   杂散光：＜0.05%在600nm;0.10%在435nm
测量
   供电：通过UMPC供电
   功率：2 瓦
   数据传输速率：5ms
   触发：自动或手动
   操作系统：Windows7 & 8 通过USB
   配有CI-700LP叶夹
   测量方式：非破坏性测量叶片
   测量光谱：叶片透射、吸收和反射光谱
   样品类型：叶片或扁平的物体
选购指南
   光谱探测器、CI-700LP叶夹、光纤、UMPC数据终端、光谱分析软件、说明书、便携式仪器箱

CI-710软件SpectracSnap测量界面

CI-710野外测量

产地：美国CID
参考文献
原始数据来源：Google Scholar
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