供应X-RAY膜厚测量仪

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镀镍测厚仪,镀锌测厚仪

韩国先锋XRF2000镀层测厚仪

检测电子电镀,化学电镀层厚度,

如镀金,镀镍,镀铜,镀铬,镍锌,镀银,镀钯,镀锡...
可测单层,双层,多层,合金镀层,
测量范围:0.04-35um
测量精度:±5%,测量时间只需30秒内便可准确知道镀层厚度
全自动台面,自动雷射对焦, 操作非常方便简单

XRF2000镀层测厚仪,提供金属镀层厚度的测量，同时可对电镀液进行分析，不单性能优越,而且价钱*
同比其他牌子相同配置的机器，XRF2000为您大大节省成本。只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果
甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。全自动XYZ样品台，镭射自动对焦系统，十字线自动调整。超大/开放式的样品台，
可测量较大的产品。是线路板、五金电镀、首饰、端子等行业的*。可测量各类金属层、合金层厚度等。

可测元素范围：钛（Ti） – 铀（U）  原子序 22 – 92
准直器：固定种类大小:可选圆形0.1  0.2  0.3  0.4mm  方型1×0.4mm
自动种类大小:可选圆形0.1  0.2  0.3  0.4mm  方型0.05×0.4mm
电脑系统：DELL品牌电脑,17寸液晶显示器，惠普彩色打印机
综合性能:镀层分析  定性分析  定量分析  镀液分析 统计功能
 

韩国先锋XRF2000镀层测厚仪
 

检测电子及五金电镀,化学电镀层厚度

主要检测:镀金,镀银,镀镍,镀铜,镀锌,镀锡,及各种合金镀层等

韩国XRF2000镀层测厚仪

全自动台面
自动雷射对焦
多点自动测量 (方便操作人员准确快捷检测样品）
测量样品高度不超过3cm(亦有10CM可选)
镀层厚度测试范围：0.03－35um

可测试单层，双层，多层及合金镀层厚度
(单层:如各种底材上镀镍,镀锌,镀铜,镀银,镀锡,镀金等)
(双层:如铜上镀镍再镀金,铜上镀镍再银,铜上镀镍再镀铬等)
多层:如ABS上镀铜镀镍再镀铬,铁上镀铜镀镍,再镀金等)
合金镀层:如铁上镀锡铜等，底材不限，双层及多层厚度各自分开显示．
测量时间：10－30秒
精度控制：
      *层：±5%以内
      第二层：±8%以内
      第三层：±12%以内

司主要经营韩国XRF-2000测厚仪,X光镀层测厚仪,电镀测厚仪,镀层测厚仪,电镀膜厚仪,电镀层测厚仪,XV测厚仪,X-RAY镀层测厚仪,膜厚测试仪,镀金测厚仪,镀镍测厚仪,镀银测厚仪,镀锌测厚仪,镀锡测厚仪,电镀膜厚测试仪,电镀层厚度检测仪,X射线镀层测厚仪,电镀层测厚仪,电镀层测试仪，X光膜厚测试仪,X射线膜厚仪,电镀膜厚检测仪,X-RAY电镀膜厚仪,X-RAY膜厚测试仪