COULOSCOPE CMS2 库仑法测厚仪电解原理

COULOSCOPE CMS2 库仑法测厚仪电解原理
COULOSCOPE CMS2 库仑法测厚仪的仪器通过电解去除层来测量涂层厚度。 特别地，库仑法可以用于地确定任何种类的基底上的多层。 部署CSM2 STEP版本，用于单层标准的STEP测试测量，并检测潜在的差异

COULOSCOPE CMS2 库仑法测厚仪电解原理

简单介绍：
COULOSCOPE CMS2 库仑法测厚仪的仪器通过电解去除层来测量涂层厚度。 特别地，库仑法可以用于地确定任何种类的基底上的多层。 部署CSM2 STEP版本，用于单层标准的STEP测试测量，并检测潜在的差异，例如在镍多层质量控制中。同时测量涂层厚度和电化学电位根据库仑法。

特征：
标准：DIN EN ISO 2177 ； ASTM B504
大屏幕点阵液晶显示屏，可显示文字与图形：126 * 70 mm
可设置和储存：50个应用程式、600个数据组；3 000个数据
统计：平均值、zui大值、zui小值、标准偏差、测量次数、Cp、Cpk 和直方图
使用多层菜单和软键，使操作更方便
RS232 接口可通过电缆和传输软件将数据传到 PC
模拟输出： 0 ～ -18V
输入阻抗： ＞ 2 KΩ
工作温度： 10 ℃ ～ 40 ℃
仪器重量： 6 kg 
电源： AC 220 V ，50-60 Hz；zui大功耗 ≤ 85 VA
尺寸： 350W * 140H * 200D  mm
COULOSCOPECMS
COULOSCOPECMS STEP
库仑镀层厚度测试仪
分步测量： 镀层厚度和电位差
测量：
Au、Cd、Cr、Pd、Ni、Sn、Zn、Pb、Pb60Sn40、Brass 等金属
基材可为 Cu and Cu-Alloy、Al and Al-Alloy、Zn and Zn-Alloy、Ni、Fe、非金属材料等
COULOSCOPE CMS双层镍镀层库伦测厚仪基本配置：
仪器：Couloscope CMS
测量台： V24、V26、V18 等 
电解液： F1 ～ F22
作为测量镀层厚度zui简单的方法之一，库仑法可以用于 各种镀层组合。 尤其对于多镀层结构， 当允许破坏性测 量时，它提供了一个比 X 射线更经济的替代方法。 
很多常见的单、双镀层例如铁镀锌或者铜镀镍镀锡都可 以用 CMS2 简单快速地测量。这个方法为任何金属镀层 提供了的测量。在厚度范围 0.05 - 50 μm 内， 很多 材料不需要预设定；基材组成和几何形状对于测量都 是无关紧要的。
——特征

——主要特征
1.使用高精度电解脱镀技术（库仑法）测量多层
2.易于操作的显示和图形支持的用户指导
3.普遍适用于金属和非金属基材的测量，也适用于多层涂料
4.通过全面的附件组合适应具体要求
5.单涂层和多涂层系统的测量
6.图形显示，用于清晰的测量视图，设定的涂层系统以及脱模速率和测试区域尺寸等参数。
7.液晶显示屏上电池电压的图形显示。
8.大多数金属涂层的许多预定义的测量应用
9.可选择的测量单位：μm或mils
10.欧洲，南美和亚洲的显示语言

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