HY（IC） IC卡动态弯曲试验机

IC卡动态弯曲试验机产品用途：

用于检测磁条卡，IC芯片卡，集成电路卡，等卡的弯曲和扭曲性能测试。

HY(IC)IC卡动态弯曲试验机技 术 参 数:

本仪器针对性IC卡在国标GB/T 16649.1，国标GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998标准等试验标准中的弯曲、扭矩的试验; *符合以上标准。

外形尺寸：L670 X W380 X H220

儀器重量：70kg

電 壓：AC220V±5%

功 率：35W

測試速度：彎曲 扭曲30r/min及0.5Hz

測試周期：1~9999次

扭曲度 ：±15°±1° 雙向d=86 mm

正反向各15°，总扭曲角度30°

长边zui大位移量为20mm(+0.00mm,-1 mm)

长边zui小位移量为2mm±0.50mm，

短边zui大位移量为10mm(+0.00mm,-1 mm)

长边zui小位移量为1mm±0.50mm，

夹具安装尺寸*按照国家标准执行。

3、IC卡动态弯曲试验机产品用途：

   用于检测磁条卡，IC芯片卡，集成电路卡，等卡的弯曲和扭曲性能测试。

 公司承诺：

1.购机前，我们专门派技术人员为您设计*的流程和方案

2.购机后，将免费指派技术人员为您调试安装

3.整机保修一年，产品终身维护

4.常年供应设备的易损件及耗品确保仪器能*使用