XRF6C能量射线荧光分析仪特点
（注）：X射线荧光（XRF）分析法是测定有初级X射线激发样品时所产生的二次特征X射线（X射线荧光），它是一种非破坏性分析方法，可以对试样进行多元素快速分析。

主要特点： 

. 准确测定黄金、铂金、银饰品中的金、银、铂、钯、铜、锌、镍、铱等元素含量，根据定义 给出符合国标 GB/T18043 要求的测试结果； 

. 自动识别样品类型，自动切换不同类型首饰样品的测试模式； 

. 仪器内置标准样品，具备自动校正功能，开机自动完成能量刻度、标准曲线校正、预热一系 列动作，免除人为操作带来的误差和错误； 

. 一键式测试操作，开启软件并放入样品后，按下一键即可完成测试获得结果，免除所有繁琐 复杂的手工设置和操作； 

. 具备高级自定义测试功能，开放各种参数调试调整，可建立自定义标准曲线，可保存或导入 导出自定义的数据库和测试模式。

1.XRF6C能量射线荧光分析仪特点

（注）：X射线荧光（XRF）分析法是测定有初级X射线激发样品时所产生的二次特征X射线（X射线荧光），它是一种非破坏性分析方法，可以对试样进行多元素快速分析。

• *多光束可调系统；

• 高分辨率SDD 硅漂移探测器；

• 快速定性分析；

• 完善的辐射安全防护；

• RoHS/WEEE 指令元素快速分析；

•  内标法与基本参数法组成强大定量分析方法群；

•  内置各类标准样品曲线数据库。

2.XRF6C能量射线荧光分析仪参数

• 元素分析范围：AI-U

•  含量分析范围：1ppm~99.99%

• 重复性：＜5%

• 测量时间：一般60~300s

•  测量对象：块状物体、粉末、液体

•  激发功率：50W

• 探测器分辨率：149gev

• 输入电源：AC110V/220V

•  高压电源：0~50kv/0~1mA

• X射线辐射剂量：≤1Sv/h

3.能量射线荧光分析仪部分元素 在低数值中可检出

代表性元素120s可检出限LOD(mg/kg)

性能指标