TOP-2000冠层分析系统广泛的运用范围分析

地表植物覆盖度分析仪，可快速测定植被表面参数、植物冠层信息、土壤养分信息、环境参数、植物病虫害程度等。

TOP-2000广泛的运用范围分析
任何物质都具有发射、吸收及反射电磁波的特性，这是光谱信息检测的基本原理。通过测量每一波长辐射的吸收、发送或反射，物质的特性就能被确定。在实际应用时，仅需要选择某些特定波段来识别被选定物质的特性。利用窄带过滤器来选择可见光和近红外（NIR） 区电磁波谱的某些波段。此波段区域可以用于量化各种胁迫导致的植物冠层发射率差异。750-900纳米的近红外波段对探测和评估植物叶片病害的严重性十分有用。近红外区的长波波段可以用于估计植物的生物化学成份。这些参数的测定可以使用进行测定分析。
冠层分析系统又名植物多谱辐射计、，可快速测定植被表面参数、植物冠层信息、土壤养分信息、环境参数、植物病虫害程度等。TOP-2000冠层分析系统是叶面施肥的研究、用于土壤改善和肥力的研究的好助手。该款仪器在农业测定过程中有广泛的运用，具体在以下几个领域中有广泛的运用：植物生长调节剂的评估；客观有效地对各种叶片病害的评级；监测应用除草剂的效果 ；用于土壤改善和肥力的研究；叶面施肥的研究；灌溉日程安排的研究；干旱对植物生长和产量的影响 ；不同基因型的特性；试验地变异的评估
仪器详情：
叶绿素测定仪产品信息：
旋风磨：
比色计：
种质资源库：