美国TSI 扫描电迁移率粒径谱仪（SMPS-3938）

美国TSI 扫描电迁移率粒径谱仪（SMPS-3938）广泛用于测量空气中的颗粒尺寸分布的标准。这一系统也经常用来使悬浮在液体中的颗粒的颗粒尺寸的测量精度。美国国家标准与技术研究所（ NIST ）使用一个 TSI DMA 尺寸为 60 nm 和 100 nm 的标准尺寸的参考材料。

美国TSI 扫描电迁移率粒径谱仪(SMPS-3938)特点和优点   

高分辨率数据：多达 167  个通道 

广泛的尺寸范围：从 2.5 nm  到 1000 nm   

 ISO 15900:2009  兼容 

快速测量：＜ 10  秒扫描 

宽的浓度范围内， 10⁷  particles/cm³ 

大的灵活性组件的设计 

无需电脑的操作， 触摸屏控制 

易于安装与不安装工具和自动发现部件 

离散粒子测量：适用于多模样本 

独立的颗粒和流体的光学性质 

宽范围的系统的选择：水或丁醇计数器供选择；传统的或非放射性中和器的选择 

美国TSI 扫描电迁移率粒径谱仪(SMPS-3938)应用   

纳米技术研究和材料的合成 

大气研究和环境监测 

燃烧和发动机排气的研究 

室内空气质量的测量 

核 /  冷凝的研究 

吸入毒理学研究 

内容包括   

静电分类器与您选择的 DMA  柱 

可兼容六种 CPC   

气溶胶仪器 ®  软件经理 

数据采集计算机必须单独购买。