R2000 光学表面分析仪

　　SR2000系列粗糙度仪
 

　　基本参数
 

　　X轴：0-220mm可选
 

　　Z轴：0-620mm可选
 

　　Z1轴：±620μm
 

　　Z1线性精度：≤±(5nm + 2.8%)
 

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　　特点
 

　　性能和成本的性价比高
 

　　宽范围无导头粗糙度传感器
 

　　可评价粗糙度、波纹度、轮廓度等数百项参数
 

　　测量功能
 

　　粗糙度功能：Ra、Rp、Rv、Rz、Rz(jis)、R3z、RzDIN、Rzj、Rmax、Rc、Rt、Rq、Rsk、Rku、Rsm、Rs、R△q、Rk、Rpk、Rvk、Mr1、Mr2、Rmr
 

　　波纹度参数：Wa、Wt、Wp、Wv、Wz、Wq、Wsm、Wsk、Wku、Wmr
 

　　原始轮廓参数：Pa、Pt、Pp、Pv、Pz、Pq、Psm、Psk、Pku、Pmr
 

　　*规格
 

　　规格号
 

　　SR2000
 

　　X轴 100~220mm
 

　　测量范围 Z轴 Z1轴 320-620mm 土620卩 m/262144： 1
 

　　粗湖度参数: 线性精度 <±(5nm + 2.8%)
 

　　重复性6 18《lnm
 

　　截止波长 0.025、0.08、0.25、0.& 2S 8mm
 

　　评定长度 AcX2> 3、4、5、6、7
 

　　残值噪声 W0.005|im
 

　　驱动速度 X轴 0.05~15mm/s
 

　　Z轴 0.2-15mm/s
 

　　粗髓度 粗糙度功能：Ra、Rp、Rv、Rzs Rz (jis)、R3z、RzDIN、Rzj、Rmax、Rc、 Rt、Rq、Rsk、Rku、Rsm、Rs、RAqs Rk、Rpk、Rvk、Mrh Mr2^ Rmr 波薄参数：Wa、Wt、Wp、Wv、Wz、Wq、Wsm、Wsk、Wku、Wmr 原始轮廓参数：Pa、Pt、Pp、Pv、Pz、Pq、Psm、Psk、Pku、Pmr