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X-MET8000 手持式 X 射线荧光 (XRF) 光谱仪

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X-MET8000是一款手持式 X 射线荧光 (XRF) 光谱仪,为安全攸关的应用场合带来出色的现场合金分析。该分析仪具备轻便性,采用了符合人体工学的设计,因此操作舒适,适合日常使用。其优化的机头设计可轻松测试弯曲或拐角内部的材料。得益于我们*的 HERO™(耐热)窗口,您可准确分析温度高达 400º 的合金。

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X-MET8000手持式X荧光光谱仪
X-MET8000手持式X荧光光谱仪介绍:
X-MET8000是一款手持式 X 射线荧光 (XRF) 光谱仪,为安全攸关的应用场合带来出色的现场合金分析。该分析仪具备轻便性,采用了符合人体工学的设计,因此操作舒适,适合日常使用。其优化的机头设计可轻松测试弯曲或拐角内部的材料。得益于我们*的 HERO™(耐热)窗口,您可准确分析温度高达 400º 的合金。借助 X-MET8000,您可大限度减少实验室检测工作,并降低成本,同时确保安全性和合规性。
X-MET8000手持式X荧光光谱仪特点:
?分析结果值得您信任
X-MET8000 *结合了通用的基本参数 (FP) 方法和经验系数法(可溯源的标准物质),可提供超高的分析精密度和准确度。
?性能优异
该分析提供的出色轻元素(Mg 至 S)分析可对组件及系统进行严格控制。检测限制低,可准确分析微量元素/残存元素以及识别牌号。
?易于操作
直观的图标驱动式用户显示意味着操作员几乎不需任何培训。大屏幕方便操作员阅读,且可在穿戴手套的情况下操作。无需使用任何工具便可更换已损坏或玷污的可快速更换防护窗口。
?稳健
X-MET8000 具备 IP54 防护等级(相当于 NEMA3),有着超高的防尘和防水性能。该分析仪符合MIL-STD-810G 强度标准。
?可选准直器
可选的小点准直器(3 毫米直径),用于更加准确地分析特点区域(如焊料),不受周边材料干扰。
?结构旨在经久耐用
X-MET8000 具有耐冲击外壳,且在显示屏、仪器头部及电池周围均采用环保密封和减震橡胶,可有效防止受到撞击。采用大面积散热器,即便在高温环境下也能提供理想的可靠性和稳定性。防护窗口(Expert 及 Optimum 型号的选购件)和高强度厚 Kapton®窗口(Smart 型号)可防止探头和X射线管在测试小部件与尖锐物品时受损。
?强大的数据管理功能
可存储多达十万个检测结果,包括光谱谱图和样品图像(若配备相机)结果和报告可直接下载到 U 盘,或通过 USB 数据线传到 PC上,也可利用 WiFi 或蓝牙实现网络共享;可保存成 CSV 格式或防篡改的 PDF 格式,以确保数据完整性。使用 X-MET 报告生成器创建自己的报告(无需安装任何软件)。此类报告可以包括公司徽标、样品图像、分析结果、光谱图和额外的样品信息。借助我们的应用,您可以与供应商、客户或同事实时分享分析结果。全面的、可自定义的牌号库
?X-MET8000 内含有较全面的牌号库:预安装的、用户可选的AISI、DIN、JIS 和 GB 牌号库覆盖超过 1600 种合金。用户可对现有牌号库进行修改,添加新牌号(例如某个厂商或者产地特定牌号),或者创建自己的牌号库(例如特定的焊接材料牌号库)。
预装牌号库包括:镍合金、不锈钢、铜合金、铝合金、钴合金、低合金钢、工具钢、钛合金、锆合金、等...

?便携式蓝牙打印机:
将结果打印在纸上或不干胶标签上,然后将其粘贴至被测件上,既方便又可自由组合。
?保护套与皮带:用于现场免提运送分析仪。
?台式支架:
数秒内将 X-MET8000 变身成台式分析仪。测量不规则形状物品时提高生产力以及增强操作安全性。大样品舱可测量各种形状和尺寸的样品。
?轻质支架与安全罩:
用于分析小样品(如螺钉、紧固件);可放进X-MET手提箱便于携带。
?轻便防辐射罩:当分析轻元素(如铝合金)时,防止辐射泄露。
?蓝牙条形码扫描仪:
可防止使用 X-MET 用户界面时,样品标签和其他信息输入错误。只需扫描样品条形码,即可在 X-MET 屏幕上的所选字段中填入信息。

?Vulcan: 可在 1 秒内识别合金,且不使用 X 射线。
?移动式和便携式 OES: 高效能的合金元素、微量元素分析;以及双相钢中的氮含量分析。

 

X-MET8000

X-MET8000

X-MET8000

 

Smart

Optimum

Expert

说明

对常用合金进行常规鉴别和分析的明智选择

经过优化,可快速分拣及分析合金,从铝到铜、再到不锈钢等

旗舰产品,性能优异,可精确分析轻元素 (Mg、Al、Si、P、S)、杂质元素及痕量元素

X 光管

40 千伏

40 千伏或 50 千伏(取决于具体的应用)

 50 千伏

X 光管过滤器

单个过滤器

6 位过滤器,适用于从 Mg 至 U 的所有元素的优化分析

6 位过滤器,适用于从 Mg 至 U 的所有元素的优化分析

探测器

大面积硅漂移探测器

大面积硅漂移探测器

大面积硅漂移探测器

元素范围

K – U

Mg – U

 

大样品温度

400oC

100oC
400oC,带 HERO™ (耐热)窗口(选购件)

100oC
400oC,带 HERO™ (耐热)窗口(选购件)

IP54 等级

重量

1.5kg

1.5kg

1.5kg

电池续航能力

10-12小时

10-12小时

10-12小时

保护探测器窗口不受损坏

厚Kapton窗口

可选窗口保护

可选窗口保护

校准

无标样FP法

无标样FP法(含轻元素分析)

无标样FP法 + 自动选择经验校
准 (可溯源的标准物质),
可提供高精度及高准确度


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