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可以测量非破坏性密封厚度。
UDM-1200是为密封工作的质量检查而开发的。无论密封类型如何，底座都对应于包括备用材料在内的所有材料，并且通过将探头应用于密封表面，以0.1mm为单位以数字方式显示操作。
| 型号名称 | 超声波测厚仪仅用于密封 |
|---|---|
| 型号 | UDM-1200 |
| 制造商名称 | Tei电子学院 |
关于超声波测厚仪的问题在这里
如果有夹带气泡在的超声波变不可测特性的密封材料，它也可以确认的有害气泡密封的掺入。显示板具有根据EL容易看到液晶显示板采用的显示单元，用于照明灯是大的，不累眼还对在黑暗中测量。测量方法是测量高达从由Ichisagu探针法的发射回波的底面回波的方法，DAC通过新的微处理器，结合有AGC功能，可靠地底面回波之间测量从发射即使林状回波等然后显示厚度。
厚度可以从密封材料的顶部测量，只要它是单组分类型，例如改性硅树脂类型，硅树脂类型，聚氨酯类型等，或者如果它甚至以双组分类型消泡。
它可以在所有条件下测量，包括无备用材料，断路器，平坦备用材料，圆棒备用材料。
即使备用材料波和接头深度发生变化，也不会对测量产生影响。此外，它可以向如果斜Kashiga约15度，即使倾斜的联合深度是变化的底部进行测量。
内置微处理器，操作也可以通过按下触摸键轻松设置测量条件。
由于主体重量仅为290克，重量轻，因此工作场所丰富，可随身携带。
您可以设置任意值并根据设置值显示差异。（DIF功能）
测量前你有什么预防措施吗？
为了准确测量，必须正确设置声速，所以请在测量前进行校准。
所需的测试片进行校准，同样的材料作为测量对象的，然后提供给我被发现预厚度的事情。
的材料进行测量时，使测量精度高比能，并要求具有不同厚度的两点校准准备两件事情。
UDM - 1200超声波测厚仪TEITSU 产品说明书 厂家 技术参数 价格
| 显示方法 | 液晶数字方法 |
|---|---|
| 测量方法 | 脉冲反射法（一种探针法） |
| 使用的频率 | 5 MHz |
| 显示位数 | 3位数 |
| 低单位 | 0.1毫米 |
| 测量范围 | ※密封胶 2.5至40毫米 |
| 错误范围 | ±0.5毫米 |
| 声速调节范围 | 500至9999米/秒 |
| 印象 | 2次/秒 |
| 认证灯 | EL背光系统 |
| 自动切割 | 中断测量后约5分钟 |
| 耦合标记 | 标记显示 |
| 电池电量低指示 | 在显示部件上显示标记（BATT） |
| 选项功能（OPT） | 显示任意值并根据设定值显示差值（DIF功能） |
| 电源 | DC 1.5 V（1节AA碱性电池）工作时间：约30小时或更长时间EL照明ON：约20小时或更长时间 |
| 工作温度范围 | -10°C至+ 50°C |
| 外部尺寸 | W 66×H 140×D 28 mm |
| 标准组件 | 阀体，AA电池×1，探头4710型5 C 5×10 N，高频电缆（W 1071：1.0 m），耦合剂，校准用试件（硅）5.0 mm，试件盒，声速表，便携式公文包，操作手册，使用说明书 |
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