特点:
原子力显微镜(Atomic force microscopy)是一种以物理学原理为基础,通过扫描探针与样品表面原子相互作用而成像的新型表面分析仪器。一般原子力显微镜利用探针对样品扫描,探针固定在对探针与样品表面作用力极敏感的微悬臂上。悬臂受力偏折会引起由激光源发出的激光束经悬臂反射后发生位移。检测器接受反射光,zui后接受信号经过计算机系统采集、处理、形成样品表面形貌图像。
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