HAD-2722 半导体粉末电阻率测试仪
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- 公司名称 北京恒奥德仪器仪表有限公司
- 品牌
- 型号 HAD-2722
- 所在地 北京市
- 厂商性质 生产厂家
- 更新时间 2018/5/28 13:52:45
- 访问次数 415
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HAD-2722型半导体粉末电阻率测试仪是运用四端子法或四探针法测试粉末电阻率的测量仪器。
仪器组成: 整套仪器有主机和粉末测试台两大部分组成。
主机 是整个系统电气控制显示核心部分,主要由恒流源、高分辨率ADC、嵌入式单片机系统单元以及压力厚度显示单元组成。
1.半导体粉末电阻率测试仪,粉末电阻率仪 型号;HAD-2722
概述
HAD-2722型半导体粉末电阻率测试仪是运用四端子法或四探针法测试粉末电阻率的测量仪器。
仪器组成: 整套仪器有主机和粉末测试台两大部分组成。
主机 是整个系统电气控制显示核心部分,主要由恒流源、高分辨率ADC、嵌入式单片机系统单元以及压力厚度显示单元组成。
粉末测试台 是连接测试主机,用来装夹半导体粉末(含高分子粉末和金属粉末等),进行压力施加(压片),并同步进行电阻率测试的装置(以下简称测试台)。
测试台为粉末标准容器、电极、加压机构、压力检测、厚度检测、连接线缆等单元组成。
优势特征:测试台,符合国标和行业规范,国内,并获国家。有两款。
四端子法符合GB/T 24521-2009和YS/T 587.6-2006有关国标和行业标准。采用通用的电流、电压四端子测量法(仪器电流源和电压表两个单元分别从独立回路连至电极同时和样品接触),可以消除电极与连接导线导通电阻产生的误差,克服了传统的二端法测量粉末电阻率仪器的弊病,可以真实地、准确地测量出粉末样品的电阻率,因此重复性也好。
四探针法测试台符合符合GBT 30835-2014《锂离子电池用炭复合磷酸铁锂正极材料》
中关于粉末电阻率测试的原理和规范,参照GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国A.S.T.M 标准。
四探针法同步压力连续测试粉末“电阻率-压强曲线,”
行业,行业推荐粉末电阻率标准测试方式。
仪器所有参数设定、功能转换全部采用数字化键盘输入;具有零位、满度自校功能;电压电流全自动转换量程;测试结果由数字表头直接显示。
压力机构采用手动操作,压力(压强)平稳可调、可保持。电子传感器自动同步检测、显示压力(压强)值和样本高度。故本测试台可一边加压一边同步测试电阻率,可方便测绘粉末样品“电阻率-压强”的性能曲线;也可以单独作为粉末压制成片的工具使用,成片后可脱模取出,用普通四探针法测试相关参数!
本测试仪配有成套PC软件,故不但可以单独(脱机)操作,还可以连接PC软件,自动保存当前测试数据、查询并统计分析历史数据、打印测试报告等!
本仪器具有测量精度高,操作简便、稳定性好,重复性好,一机多用使用方便等特点。也是区别于以往旧款同类测试台新特点! 本仪器适用于碳素厂、焦化厂、石化厂、粉末冶金厂、高等院校、科研、是检验和分析固态和粉态样品质量的一种重要优良工具。
三、半导体粉末电阻率测试仪参数
1. 电阻率测量范围、分辨率
电 阻 率: 15.0×10-6 ~ 200.0×103 Ω-cm 分辨率1.5×10-6 ~ 0.1×103 Ω-cm
(1.0×10-6 ~ 200.0×101 Ω-cm 分辨率0.1×10-6 ~ 0.1×101 Ω-cm)
电阻率量程划分及误差等级
满度显示 | 200.0 | 20.00 | 2.000 | 200.0 | 20.00 | 2.000 | 200.0 | 20.00 |
很大拓展量程 | KΩ-cm | Ω-cm | mΩ-cm | |||||
基本误差 | ±2%读数±4字 | ±1.5%读数±4字 | ±0.5%读数 ±2字 | ±0.5%读数 ±4字 |
3. 数字电压表:
⑴量程:10mV ~ 100 mV,自动
⑵显示: 4位有效数字,很大显示999.9 小数点、单位自动显示
4. 数控恒流源
电流输出:直流电流0.1µA~1000mA可调,系统自动步进调整。
5.粉末测试台部分参数:
(1)、试样成份:成份不限,但不得含有对测试台和电极有腐蚀作用的成份。
(2)、试样粒度:标准以40目以下—60目以上(标准筛网),一般其他粒度也可!
(3)、试样容器:内径:Φ11.28mm(S=1.0cm2)
高度:0~20mm可调,带高度传感器监测,测量误差:±0.05mm。
(4)、测试压强
标准压强:P0=4Mpa±0.05Mpa。
压强量程:20Mpa, P=0~20 Mpa可调。
(5)、压力机构采用手动操作、压力平稳可调。
四位有效显示数00.00~20.00MPa,分别率±0.01 MPa。
6.测试仪外形与重量
前宽×长×总高=250mm×220 mm×540mm
重 量=10Kg
7. 电源:
功 耗:< 10W
输入:220V±10% 50Hz
8. 本仪器工作条件为:
温 度: 0-40℃
相对湿度: ≥60%
工作室内应无强电磁场干扰,不与高频设备共用电源
2.液体介质体积电阻率测定仪 液体介质体积电阻率仪 型号:JX1-XZR-10A
液体介质体积电阻率测定仪,用于测定液体介质的体积电阻率,也可测固态电阻。
·采用双CPU控制,彩色液晶触摸屏。四个Y18油杯.其中三杯用于做绝缘油,一杯油样做抗燃油。
·附加电子制冷装置,控温精度更高
·自动打印实验结果
· 环境温度15℃~25℃,相对湿度≤70%,供电电压AC/220V±10%,50HZ,消耗功率≤500W
·测试范围0.5X10 ~499X10 Ω.Cm,控温范围20℃~100℃
·测量误差≤±10%,控温精度≤±0.5℃
3.体积表面电阻率测定仪/玻璃电阻率测定仪/绝缘材料电阻率测定仪 型号:HAD-121
一、概述
本仪器既可测量高电阻,又可测微电流。采用了美国In公司的大规模集成电路,使仪器体积小、重量轻、准确度高。数字液晶直接显示电阻值和电流。量限从1×104Ω ~1×1018 Ω,是目前国内测量范围很宽,准确度很高的数字超高阻测量仪。电流测量范围为2×10-4 ~1×10-16A。机内测试电压为10V/50V/100V/250V/500V/1000V任意可调。本仪器具有精度高、显示迅速、性好稳定、读数方便, 适用于橡胶、塑料、薄膜、及粉体、液体、及固体和膏体形状的各种绝缘材料体积和表面电阻值的测定。
二、主要特点
电阻测量范围宽 1×104Ω ~1×1018Ω
电流测量范围为 2×10-4A ~1×10-16A
体积小、重量轻、准确度高
所有测试电压(10V/50V/100/250/500/1000V) 测试时电阻结果直读,免去老式高阻计在不同测试电压下或不同量程时要乘以系数等使用不便的麻烦,使测量超高电阻就如用表测量普通电阻样简便。
既能测超高电阻又能测微电流
三、指标
1、电阻测量范围: 0.01×104Ω ~1×1018Ω。
2、电流测量范围为: 2×10-4A~1×10-16A
3、显 示 方 式: 32位LED液晶屏显示
4、内置测试电压: 10V 、50V、100V、250、500、1000V
5、基本准确度:1% (*注)
6、使用环境: 温度:0℃~40℃,相对湿度<80%
7、机内测试电压: 10V/50V/100/250/500/1000V 任意切换
8、供电形式: AC 220V,50HZ,功耗约5W
9、仪器尺寸: 285mm× 245mm× 120 mm
10、质量: 约2.5KG
四、工作原理
根据欧姆定律,被测电阻Rx等于施加电压V除以通过的电流I。传统的高阻计的工作原理是测量电压V固定,通过测量流过取样电阻的电流I来得到电阻值。从欧姆定律可以看出,由于电流I是与电阻成反比,而不是成正比,所以电阻的显示值是非线性的,即电阻无穷大时,电流为零,即表头的零位处是∞,其附近的刻度非常密,分辨率很低。整个刻度是非线性的。又由于测量不同的电阻时,其电压V也会有些变化,所以普通的高阻计是精度差、分辨率低。
本仪器是同时测出电阻两端的电压V和流过电阻的电流I,通过内部的大规模集成电路完成电压除以电流的计算,然后把所得到的结果经过A/D转换后以数字显示出电阻值,即便是电阻两端的电压V和流过电阻的电流I是同时变化,其显示的电阻值不象普通高阻计那样因被测电压V的变化或电流I的变化而变,所以,即使测量电压、被测量电阻、电源电压等发生变化对其结果影响不大,其测量精度很高(),从理论上讲其误差可以做到零,而实际误差可以做到千分之几或万分之几。
典型应用
1、测量绝缘材料电阻(率)
2、测量防静电材料的电阻及电阻率
3、测量计算机房用活动地板的系统电阻值
4、测量防静电鞋、导电鞋的电阻值
5、光电二极管暗电流测量
6、物理,光学和材料研究
标准配置:
1、测试仪器:1台
2、.电源线:1条
3、测量线:3根(屏蔽线、测试接线、接地线)
4、使用说明书:1份
备注:
本仪器配不同的测量电极(夹具)可以测量不同材料(固体、粉体或液体)的体积电阻率和表面电阻率或电导率,符合国家标准GB1410-2006固体电工绝缘材料绝缘电阻、体积电阻系数和表面电阻试验方法,ASTM D257 绝缘材料的直流电阻或电导试验方法 等标准要求。此产品由我公司自行研发创建电阻和电阻率双向显示。无需再计算
4.便携式四探针测试仪/四探针检测仪/电阻率检测仪 型号:HAD-TS-2
测量范围宽、精度高、稳定性好、结构紧凑、易操作的便携式
体积仅为:125mm(宽)*145mm(高)*245mm(深)
HAD-TS-2/TS-2A型便携式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而的,于测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。
仪器采用了电子进行、装配。具有功能选择直观、测量取数快、精度高、测量范围宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等特点。如有需要可加配测试台使用。
本仪器广泛应用于太阳能单晶(多晶)厂家为硅材料的分选测试,半导体材料厂、半导体器件厂、科研单位、高等院校对半导体材料的电阻性能测试。
技 术 指 标 : | ||||||||||||||||||||||||
便携式四探针测试仪按测量范围可选配HAD-TS-2型或HAD-TS-2A型,区别:测量范围不一样。 | ||||||||||||||||||||||||
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5.点对点电阻率测试仪/点对点电阻率检测仪 型号:HAD-613
用途
用于检测防静电工作服点对点电阻率,适用于*和B级防静电工作服。本原理是对试样加入测试电压100 V 共15 s,流经试样的微弱电流用标准电阻取样放大后,从高阻计上读出。数字直接显示出电阻值,精度高、显示迅速、稳定性好、读数方便。
特点:
1、仪器规格:主机:252mm×265mm×100mm;
绝缘试验台:1000mm×600mm
2、测试部分由电极和导电橡胶
3、摆放位置:实验台(或桌面)
量程:
1、量程范围: 105 Ω~1013 Ω;
2、高阻计示值误差:±1%,
3、电压:100V DC
国家标准GB12014- 2009《防静电服》
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