SZ-100纳米粒度/Zeta电位分析仪

SZ-100纳米粒度/Zeta电位分析仪，可更高灵敏度、高精度地评价单一纳米粒子，并能*解析纳米粒子的物质结构。

　　SZ-100纳米粒度/Zeta电位分析仪

　　作为2010年3月推出的纳米粒子解析装置， SZ-100 具有诸多优异性能：

　　●超小体积设计，将解析纳米尺寸重要的三要素(粒子直径、Zeta 电位、分子量测定)的测定囊括于一身。

　　●从 PPM 级的低浓度到百分之几十的高浓度样品，都能够在保持原液状态下进行测量。

　　●微小容量电泳样品池是 HORIBA Scientific 独自研发，可以测定取样调查仅100μL的 Zeta 电位。

　　●适合胶质粒子、机能性纳米粒子材料、高分子、胶束、核糖体、纳米囊等广泛应用。

　　●操作简单，进样、设定参数后，只要按开始按钮即可得到测量结果。

　　仪器简介：

　　SZ-100 是HORIBA Scientific 推出的纳米粒子解析装置，可更高灵敏度、高精度地评价单一纳米粒子，并能*解析纳米粒子的物质结构。该仪器被广泛应用于陶瓷粒子、金属纳米粒子、石炭、制药、病毒、颜料和涂料、化妆品、聚合物、食品和CMP 等的检测。

　　高灵敏度、高精度的测量

　　*表征单一体系纳米尺度粒子

　　*解析纳米粒子的物质结构

　　SZ-100纳米粒度/Zeta电位分析仪技术参数：

　　●粒子直径测定

　　超宽动态光散射测量范围:　0.3nm——8000nm

　　通过采用与NEDO国家项目共同开发的相关器，实现高性能化。

　　在单一纳米粒子光学系统中，采用更低杂散光90°检测光学系统。

　　双光路系统（90°和173°）适用于更宽浓度范围的样品测量，可以进行釉浆、颜料等高浓度样品以及胶束、聚合物等低浓度样品的测定。

　　●Zeta电位测定

　　通过安装HORIBA自主研发的标准微型样品池，可以测定仅100μL的样品。

　　SZ-100纳米粒度/Zeta电位分析仪主要特点：

　　●超小体积设计

　　● 可测纳米粒子的三个重要要素——粒子直径、Zeta电位和分子量。

　　●样品浓度从PPM到百分之几十，SZ-100都能在原液状态下取样和测定。

　　●HORIBA自主研发的微量电泳样品池， 可以测定仅100μL的Zeta电位。

　　●广泛应用于胶质粒子、 机能性纳米粒子、 高分子、胶束、 核糖体、 纳米囊等的测定。

　　●操作简单，进样、设定参数后，只要按开始按钮即可得到测量结果。

　　SZ-100纳米粒度/Zeta电位分析仪应用范围：

　　● 陶瓷粒子　● 金属纳米粒子　● 碳黑　● 制药　● 病毒　● 涂料

　　● 化妆品　　● 聚合物　　 　● 食品　● ＣＭＰ● 颜料、油墨