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ELEGRE X射线能谱仪

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ELEGRE X射线能量色散谱仪(EDS)是北京意力博通技术发展有限公司开发的通用型产品,可以配接多种型号的Si(Li)探测器,适用于SEM和TEM快速元素识别及定量分析。运行在MS WINDOWS操作系统中的ELEGRE中文应用界面,采用快捷按钮和菜单方式操作,简便,快速,易用。

详细信息 在线询价

主要功能:

1.多种高电压输出选择,温度报警和探测器自动保护(对于没有温度控制装置的探测器此功能不起作用)。

2.高性能模拟脉冲处理器和高速ADC。具有零点稳定、单峰自动增益校准、采集速率选择等。

3.多达4096道多道分析器。显示0—40KeV全部能量范围的谱峰,即适用于SEM,又适用于TEM。另外,还具有4通道实时元素线、面分布输出。

4.手动、自动元素定性分析软件。手动定性工具为有经验的分析人员精确鉴别元素和修改元素值提供方便;自动定性能够在1秒之内快速识别和标记全部元素。

5.有标样及无标样定量分析软件。采用高帽滤波方法,zui小二乘峰拟合技术,扣除背底,剥离重叠峰并做基底修正(PRZ,ZAF等修正方法)。

6.谱处理软件

   a. 多种谱显示方式: 自动谱峰高度显示,自定义谱峰高度显示,对数谱峰高度显示,自动谱峰宽度显示,自定义谱峰宽度显示,前景谱和背景谱比较显示。便于谱的观察、比较,处理,重叠,卷动,扩大。

  b. 两种感兴趣区设置方式: 鼠标拖动设置任意宽度的ROI;元素周期表方式自动设置ROI宽度。

7.编辑和输出软件。可直接将采集到的信息和分析结果保存成Word文档,编辑报告,驱动喷墨或激光打印机进行定量、定性结果打印以及绘制谱图等。

 


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