WPA-micro 相位差测量仪

1.操作简单/快速测定：*的偏振成像传感器进行简单的和快速的操作即可测量相位差的分布
2.2D数据的多方面分析功能：二维数据的强大分析功能，能够直观解释被测样品的特性
3.适用于测试强化玻璃的球晶、金属晶体和横截面
4相位差测量仪易于获取偏光显微镜数据资料。可进行反射评价。

日本Photonic-lattice公司成立于1996年，以日本东北大学的光子晶体的研究技术为核心，成立的合资公司，尤其是其光子晶体制造技术世界，并由此开发出的测量仪器。 

主要产品分四部分：

• n 光子晶体光学元件；
• 双折射和相位差评价系统；
• 膜厚测试仪；
• 偏振成像相机。

『相位差』『双折射』『内部应力』测量装置 WPA/PA系列

• 快速定量测量透明材料和薄膜2维平面内的
• 相位差、双折射和内部应力应变分布

PA/WPA系统特点：

• 操作简单/快速测定：*的偏振成像传感器进行简单的和快速的操作即可测量相位差的分布
• 2D数据的多方面分析功能：二维数据的强大分析功能，能够直观解释被测样品的特性。
• 大相位差测试能力（WPA系列）：通过对三组不同波长的测量数据进行计算，WPA系统可以测量出几千nm范围内的相位差。

          偏光图像传感器的结构和测试原理

显微镜视野内的高相位差样品的双折射测量 WPA-MICRO

匹配显微镜测量双折射测量光学薄膜、钢化玻璃、有机晶体薄膜、大分子晶体、金属晶体、不透明基板等材料

在显微镜视场下评估和管理双折射分布。

产品特点：

 大测试范围

曲线图功能

CSV输出格式

快轴/慢轴选择

反射评估

l 适用于测试强化玻璃的球晶、金属晶体和横截面。

l 易于获取偏光显微镜数据资料。可进行反射评价。