MFP-D 双模式轮廓仪\台阶仪

白光干涉能够进行高分辨率图像的扫描，对表面进行分析。两种工作模式-相移和白光扫描模式,能够高精度测量粗糙或者光滑的样品表面。

• 双模式三维形貌仪
  特点：一台设备上集成非接触式白光干涉形貌仪+高精度原子力显微镜
   
  白光干涉
   
  白光干涉能够进行高分辨率图像的扫描，对表面进行分析。两种工作模式-相移和白光扫描模式,能够高精度测量粗糙或者光滑的样品表面。
   
  •      的技术来实现高Z向分辨率
   
  •      白光干涉法和相移两种模式实现Z方向的高分辨率。
  •      快速图像处理系统达到400万像素
  •      四色LED相机
   
  •      更大的垂直测量范围达10毫米
   
  •      150 mmx150mm马达控制平台。
   
  •      样品粗糙度，粗糙表面高度抛光后的光洁度以及表面结构测量，如陶瓷、塑料和辊钢。
   
  •      SPIP专业数据分析软件
   
  原子力显微镜
   
  探针式轮廓测量能够进行材料在纳米尺度水平的测试。提供扫描范围70 x70um，探针更换简单。
   
  •      的技术来实现Z和XY方向上的高分辨率
   
  •      X,Y和Z方向上纳米级的分辨率和精度。
  •      线性XY压电陶瓷扫描
   
  •      包括振动和不振动的模式
   
  •      可选的侧向力和相位模成像