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赛默飞色谱及痕量元素分析

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半导体年度盛会 赛默飞再推新品满足分析需求

阅读:323      发布时间:2018-3-15
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  2018年3月14-16日,中国半导体设备和材料展(以下简称SEMICON CHINA)在上海新博览中心隆重举行。SEMICON CHINA是中国首要的半导体行业盛事之一,囊括当今世界上半导体制造领域主要的设备及材料厂商。


  我司作为科学服务领域的,拥有行业的解决方案,可为半导体及相关行业的关键环节提供多层次技术支撑,满足您的分析需求。如单晶硅锭和晶圆,以及清洗剂和刻蚀剂中的离子态杂质、金属杂质、有机物杂质等可采用赛默飞技术的离子色谱https://www.86175.com/product/detail/159824.html、电感耦合等离子体质谱仪(单四极杆、三重四极杆 ICPMS)或高分辨电感耦合等离子体质谱仪(HR-ICP-MS)、辉光放电质谱仪(GD-MS)、气质联用仪等进行分析,且赛默飞丰富的前处理产品和分析产品组合同时还可为RoHS 检测、废水分析等提供全面解决方案。https://www.86175.com/product/detail/185251.html


  我司在SEMICON CHINA 2018 展示我司在半导体行业的综合解决方案,并推出几款新品,包括亮相的Thermo Scientic™ iCAP™ TQs ICP MS。https://www.86175.com/product/detail/152540.html


  我司将带领您直击展会*天现场盛况:

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