原子力显微镜-频率距离曲线

分析测得的频移与距离的关系曲线可以确定样本力的距离依赖性。这种分析的结果表明，通过动态力谱不仅可以定量地测量非接触力，而且可以弹性地测量弹性接触力，这为验证纳米微细粒的接触力学模型开辟了一种新的直接方法[1]。

频率距离（fd）曲线显示出相似的整体形状。正如在动画图片上看到的那样，在悬臂接近样本表面的过程中，频移减小并且达到小。随着近的采样距离的进一步减小，频移再次增加并变为正值。对于较小的谐振幅度，Df（z）曲线的小值比较大幅度的曲线深，并且小值之后的斜率较陡。随着附着力的增加，fd曲线的区域也变深。

对动态力显微镜中频移的对比实验和理论研究，其取决于样本距离和共振幅度，结果表明，在1 / A的情况下，不同幅度下获得的频移与距离曲线^3/2，因此可以浓缩为一条归一化的频移曲线[2]。

该实验力曲线显示出与远距离（范德华力），近距离（Lennard-Jones）和接触力（赫兹/ DMT）的比力定律[3]吻合良好。

References

1. Phys. Rev. B 61,(2000).

2. Phys. Rev. B 56,(1997).

3. Appl. Phys. Lett. 75, 433 (1999).