仪准科技(北京)有限公司
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2019 02-28

开封decap类型原理及设备操作

仪准AA探针台转载请写明出处Decap即开封,也称开盖,开帽,指给完整封装的IC做部分腐蚀,使得IC可以暴露出来,同时保持芯片功能的完整无损,保持die,bondpads,bondwires乃至lea

2019 02-28

集成电路IC质量与可靠性测试

质量(Quality)和可靠性(Reliability)在一定程度上可以说是IC产品的生命,好的品质,*的耐力往往就是一颗较好IC产品的竞争力所在。在做产品验证时我们往往会遇到三个问题,验证什么,如何

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仪准科技(北京)有限公司

  擅长领域手动探针台Probe station,激光开封机Laser decap,光发射显微镜EMMI,IV自动曲线量测仪,红外显微镜,半导体失效分析设备,集成电路测试:非破坏xing分析  小型测试机 / 半导体I-V特xing曲线仪 / 探针台 / 显微镜观察分析 / 3D X-Ray / 超声波扫描显微镜 /  破坏xing分析  激光开封 / 手动开封 / 酸自动开封机 / 小型半导体器...

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