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日本PHL公司双折射(应力)测量仪原理及特点

阅读:1290      发布时间:2020-4-17
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  透明物体由于不均匀冷却或其他如受机械作用等原因,其内部会产生内应力,引起双折射,晶体物质本身具有双折射的光学特征。应力双折射仪采用偏振光电矢量合成及光学补偿原理,通过对样品的光程差的定量测定,确定样品应力双折射的大小。
 
  原理:
 
  当光穿透具有双折射特性的透明物质时,光的偏光状态会产生变化。换句话说,比较光穿透物体前之后的偏光状态,即可评估物质的双折射。该设备装配的偏光感应器,使用了日本PHL公司*的光子晶体技术组装而成的偏光感应器,能瞬间将偏光资讯以影像方式提取保存。再搭配专属的演算、画像处理软件,能将双折射分布数据定量化,变成可以分析的资料。
 
  用途:
 
  应力仪是用来检查透明物体内应力大小和分布状况的仪器。不仅在光学玻璃、光学仪器、玻璃制品、塑料制品等工业得到广泛应用,而且在建材、灯具、制药、饮料、工艺品安全防爆指标的检验方面也占有重要地位,在水晶饰品制作、地质矿产、材料科学领域也有不少应用。同时,本仪器也是各大专院校特别理想的教学实验设备。
 
  系统特点:
 
  1、操作简单/快速测定:*的偏振成像传感器进行简单的和快速的操作即可测量相位差的分布。
 
  2、2D数据的多方面分析功能:二维数据的强大分析功能,能够直观解释被测样品的特性。
 
  3、大相位差测试能力:通过对三组不同波长的测量数据进行计算,WPA系统可以测量出几千nm范围内的相位差。

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