中国电子元件行业协会主办的“2024年中国陶瓷电容器及材料技术产业发展论坛暨中国MLCC行业年会”，将于2024年4月24日-26日在辽宁省大连市举行。
 

 

　　XRF镀层测厚仪
 

　　镀层测厚仪是一种用于测量材料表面保护、装饰形成的覆盖层厚度的仪器。这种仪器在多个领域中都有广泛的应用，包括制造业、金属加工业、化工业以及商检等检测领域。它尤其适用于工程现场的测量工作。
 

　　在MLCC(片式多层陶瓷电容器)的生产和质量控制过程中，镀层测厚仪的应用主要体现在以下几个方面：
 

　　金属外电极厚度测量：MLCC的两端封有金属外电极，镀层测厚仪可以精确测量这些电极的厚度，以确保其符合设计要求。这对于保证电容器的电气性能和稳定性至关重要。
 

　　质量控制与检测：通过测量MLCC上各部分的镀层厚度，可以监控生产过程中的质量变化，及时发现并纠正潜在问题。这有助于确保产品的一致性和可靠性。
 

　　研发与改进：在MLCC的研发阶段，镀层测厚仪可以帮助工程师了解不同工艺参数对镀层厚度的影响，从而优化生产工艺，提高产品性能。
 

　　综上所述，镀层测厚仪在MLCC的应用中发挥着重要作用，为电容器的生产、质量控制和研发提供了有力的支持。
 

 

　　热分析仪
 

　　热分析仪在MLCC(片式多层陶瓷电容器)的应用中起到关键作用。通过热重分析技术，热分析仪能精确测量MLCC在陶瓷烧结过程中的质量变化，从而分析其热稳定性和组分。这对于确保MLCC的可靠性、高精度及小型化等特性至关重要，是MLCC研发与生产过程中的重要环节。