“原子力显微镜技术新进展研讨会”南京大学站
1986年成立至今，原子力显微镜技术已经过30年的发展。30年间，AFM的功能也从初的表面形貌测量发展成功能全面的材料物性测试工具。随着技术的进步，如今第三代原子力显微镜能够实现高分辨率成像，快速扫描的能力，并且更易操作。
牛津仪器原子力显微镜将在南京大学和四川大学分别举行“原子力显微镜技术新进展研讨会”。两场研讨会将分别就AFM技术进展和纳米电学性能表征测试等议题进行分享，我们还为大家现场演示超高分辨率，具有快速扫描能力的CypherS型AFM。欢迎大家参加！
“原子力显微镜技术新进展研讨会”南京大学站
时间：2016年11月22日
地点：南京大学仙林校区（仙林大道163号南京大学电子科学与工程系）
| 时间 | 安排 | 报告人 |
| 8：30-9：00 | 注册 | |
| 9：00-9：30 | AFM技术进展介绍 | 刘长隆 |
| 9：40-10：15 | 二维有机半导体及其异质结的研究 | 张宇涵博士 |
| 10：15-10：30 | 茶歇 | |
| 10：30-11：00 | AFM表征铁电隧道结研究 | 李晨博士 |
| 11：00-11：30 | 纳米电学性能表征测试 | Dr. Jonathan MOFFAT |
| 11：30-11：45 | AFM功能探针介绍 | 刘硕 |
| 13：30-15：15 | AFM高分辨成像模式展示 | AR |
| 15：30-17：00 | AFM功能模式展示（PFM\SKPM） | AR |
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