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面议1906
简介:多功能数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合GB/T1551-2009《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定...
北京卓川电子科技有限公司 会员等级: 产地:北京市我要询价 -
面议750
简介:仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试
北京卓川电子科技有限公司 会员等级: 产地:北京市我要询价 -
面议5704
简介:HAD-M-2型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置,它可以测量片状、块状半导体材料的电阻率,扩散层的薄层电阻(亦称方块电阻)。也可测柔性导电薄膜和玻璃等硬基底上导电膜的方块...
北京恒奥德科技有限公司 会员等级: 产地:北京市我要询价 -
面议5704
简介:GSZ-RTS-2/GSZ-RTS-2A型便携式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M标准而设计的,于测量硅晶块、晶片电...
北京恒奥德科技有限公司 会员等级: 产地:北京市我要询价 -
面议5704
简介:1.主机采用的*电路设计,所测数值更精、更快、更准(一代为传统式电路,缺点:体积大,速度慢,元器件繁多导致影响机器寿命)。2.屏幕采用液晶显示(一代为只有数码管显示),手自一体(自动是标配,手动手...
北京恒奥德科技有限公司 会员等级: 产地:北京市我要询价 -
面议5704
简介:HAD-ST2258A型多功能数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置,它可以测量片状、块状半导体材料的电阻率,扩散层的薄层电阻(亦称方块电阻)。换上四端子测试夹具,还可对电阻器...
北京恒奥德科技有限公司 会员等级: 产地:北京市我要询价 -
面议2882
简介:TH2661型手持式四探针测试仪,可测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率及扩散层的薄层电阻,适用于半导体和太阳能材料测试的要求,也可对分立电阻进行测量。基本准确度0.5%,测量参数:电压、电...
深圳市精度环越科技有限公司 会员等级: 产地:深圳市我要询价 -
面议5704
简介:HAD-WSP-51数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置,它可以测量片状、块状半导体材料的电阻率,扩散层的薄层电阻(亦称方块电阻)。也可测柔性导电薄膜和玻璃等硬基底上导电膜的...
北京恒奥德科技有限公司 会员等级: 产地:北京市我要询价 -
面议5704
简介:HA/RTS-5型双电测四探针测试仪采用了四探针双电测组合(亦称双位组合)测量新技术,将范德堡测量方法推广应用到直线四探针上,利用电流探针、电压探针的变换,在计算机控制下进行两次电测量,能自动消除...
北京恒奥德科技有限公司 会员等级: 产地:北京市我要询价 -
面议2928
简介:TH2661型四探针测试仪,可测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率及扩散层的薄层电阻,适用于半导体和太阳能材料测试的要求,也可对分立电阻进行测量,USB接口可为用户提供远程控制及测试数据的统...
深圳市卓越仪器仪表有限公司 会员等级: 产地:深圳市我要询价