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深圳市中图仪器股份有限公司 会员等级: 产地:深圳市我要询价 -
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广州贝拓科学技术有限公司 会员等级: 产地:广州市我要询价 -
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简介:白光干涉薄膜厚度测量仪Delta利用薄膜干涉光学原理,对薄膜进行厚度测量及分析。用从深紫外到近红外可选配的宽光谱光源照射薄膜表面,探头同位接收反射光线。
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简介:激光测振仪(进口)位移分辨率高达0.008纳米。测量物体振动的速度,加速度,位移,运动轨迹,频率.全场激光测振实现整面物体的XY轴的振动测量可以彩色动画输出。三维激光测振可以实现三轴振动测量。多点...
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