LEXT OLS4500 纳米检测显微镜
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- 公司名称 岛津企业管理(中国)有限公司
- 品牌
- 型号
- 所在地 上海市
- 厂商性质 生产厂家
- 更新时间 2022/4/2 16:45:39
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LEXT OLS4500 纳米检测显微镜是结合了传统光学显微镜、激光扫描显微镜(LSM)以及扫描探针显微镜(SPM)功能为一体的革新机,从而可以实现对观测对象从几十倍到百万倍的连续放大, 可以满足不同样品的超高分辨率三维观察,以及尺寸测量、微粗糙度测量等各种观测需求。
LEXT OLS4500 纳米检测显微镜
LEXT OLS4500 纳米检测显微镜是结合了传统光学显微镜、激光扫描显微镜(LSM)以及扫描探针显微镜(SPM)功能为一体的革新机,从而可以实现对观测对象从几十倍到百万倍的连续放大, 可以满足不同样品的超高分辨率三维观察,以及尺寸测量、微粗糙度测量等各种观测需求。
通过在多种显微镜和观察模式间自由切换,LEXT OLS4500可以轻松实现从毫米到纳米的超大范围观察和测量,这使得观察对象的定位变得精准快捷,在大大缩短了获取影像时间的同时保护了探针,并且不用担心观测目标的丢失。另外,这种一体的革新设计可以实现对同一对象的多手段原位观测,从而提高了对观测结果分析解释的准确性和可信度!
l 光学显微镜:
装有倍率不同的四种物镜,集合了明视野观察(BF)、微分干涉观察(DIC)、简易偏振光观察及HDR(高动态范围)观察等多种功能。
l 激光显微镜:
采用短波长405nm的激光光源和高数值孔径的物镜、以及*的共焦光学系统,实现了优异的平面分辨率。在激光微分干涉模式中还可以实现观察纳米级的微小凹凸。
l 扫描探针显微镜:
专业的针尖对齐夹具避免了在仪器上调节激光光斑位置的繁琐;
搭载导航功能,可以在已扫图像中任意制定特定区域进一步扫描观测;
多种观察模式满足对样品表面形貌和物性的观察分析。
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