光学低温恒温器

高分辨率小信号测量和空间绘图需要光学恒温器的机械稳定性在实验进行时超过光路的空间分辨率。MicrostatHiResII是真空进样的连续流低温恒温器，它可以在变温和恒温条件下都保持极低的样品振动和漂移量。这个低温恒温腔的高机械稳定性使它成为进行半导体微结构的微米量级显微喇曼和显微光致发光研究的理想载体。

　　仪器简介：

　　高分辨率小信号测量和空间绘图需要光学恒温器的机械稳定性在实验进行时超过光路的空间分辨率。MicrostatHiResII是真空进样的连续流低温恒温器，它可以在变温和恒温条件下都保持极低的样品振动和漂移量。这个低温恒温腔的高机械稳定性使它成为进行半导体微结构的微米量级显微喇曼和显微光致发光研究的理想载体。

　　技术参数：

　　标准参数：

　　冷却介质： 液氦（也可以用液氮）

　　操作温度：2.7K -500K

　　基托温度：GF4泵3.2K， EPS泵 2.7K

　　温度稳定性： +/-0.1K

　　液氦消耗量： <0.75Lhr-1 （4.2K）

　　冷却时间：使用冷凝脉冲冷头时，从周围环境到4.2K约15mins

　　常温下样品架横向漂移： 4.2K下1.5小时稳定后 每小时0.15mm 漂移

　　变温下样品架横向漂移：300K冷却到120K，4μm

　　120K冷却到 30K，6μm

　　30K冷却到4.2K ，3μm

　　样品架振动 <20nm

　　? 样品工作距离：从样品架表面到窗口外表面，

　　? 对于0.5 mm厚窗口2.2 mm

　　? 对于1.5 mm厚窗口3.2mm

　　标准温度探测器： 三点校准铑离子探测器

　　换样时间： 1hr

　　重量1.5Kg

　　主要特点：

　　特点： 高度机械集成—提供了可以连续保持数小时的低样品振动和位移。.

　　极短的光学工作距离：--可以很容易的与显微镜物镜相匹配，在4.2K的低温下达到亚微米级的空间分辨率

　　顶部边缘可以调节：当研究不同厚度的样品区域时，可以在使用zui大倍光学镜头时也无需改变样品托。

　　2.7K到500K的变温范围。在变温和恒温时都保持高分辨率。