GE X射线检测系统
GE检测控制技术 phoenix x|aminer高功率x射线检测系统，可简便地用于半导体封装和线路板组装等电子行业领域.
GE X射线检测系统
GE检测控制技术 phoenix x|aminer高功率x射线检测系统，可简便地用于半导体封装和线路板组装等电子行业领域.
特点：
• 无使用寿命限制160kV/20W高功率射线管，易于穿透高
吸收性工件
• 可选高对比探测器，以提高实时检测能力
• 设计人性化和操作简便易用
• 功能全面的CT软件模块，简单快捷
• 可实时CAD数据匹配
• 自动实时导航图功能，易于对样品的上下表面和内部进
行快速定位
• 大视窗可方便观测操控台
• 激光防碰撞设计以保护工件
• 占地面积小
苏州和谐电子技术有限公司
：刘
技术规格和配置
几何放大倍率 | 2100X；配置平板探测器时，>2,000X |
总放大倍率 | >23000X；配置平板探测器时，>7,000X |
细节分辨率 | 可达0.5微米 |
类型 | 开放式微米管、透射管头、170度辐射角、准直功能 |
zui大管电压/靶功率 | 160KV/20W |
数字成像链（标准配置） | 高分辨率4″双视野图像增强器，2M像素高分辨率数字相机 |
数字成像链 | 平板探测器 分辨率：75um 像素：1536×864像素 |
操控平台 | 5轴（X、Y、Z、tilt、rotate） |
总体结构 | 高精度抗震动、同步驱动 |
检测范围/工件尺寸/重量 | 410mm×410mm/410mm×410mm/10Kg |
Ovhm-斜三角视图旋转 | 可调视角70°，n×360° |
操控 | 操纵杆控制或鼠标（手动模式）和数控编程控制 |
轴速（X-Y-Z） | 10μm/s到80mm/s |
操控辅助功能 | X射线影像导航仪图，点击移动功能，，激光定位瞄准 |
phoenix x|act base | 全面的X射线图像分析软件 包含测量功能、数控编程功能 |
CT功能选项：3d |av | 3D CT软件，适用于图像增强器 |
基本CT轴 | 高机械精度旋转单元，用于高分辨率要求的CT应用 |
简易CT轴 | 配有待固定夹具的旋转单元 |
zui小系统尺寸（W×H×D） | 1800mm×1900mm×1300mm |
zui高可调控制面板 | 400mm |
zui大重量 | 约2050Kg |
XY平台 | 伍旋转功能，可增大检测区域至510mm×510mm |
|
|
|
|
|
|
*您想获取产品的资料：
个人信息：
