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RAIN Xplorer Inline RFID在线测试仪

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在生产工序中CISC RAIN Xplorer在线测试仪可以进行高速标签多点性能测试

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CISC RAIN Xplorer Inline是一款在生产工序中对RAIN Inlay和标签进行高速性能测试的设备,它为生产工序的始终提供质量保证。它带有一个GUI,协助用户对性能指标进行详细的了解。


CISC RAIN Inline Xplorer帮助
实时发现生产工序中的异常情况。
节约时间和成本,用户可灵活创建性能矩阵用于更好的分析
根据客户市场需求,高速测试一个RAIN RFID inlay或标签多个频点的性能
提高产品的整体质量管理水平




  • 800MHZ至1GHZ
  • TX功率范围从1dBm到28dBm
  • 灵敏度-80 dBm
  • 读取EPC、TID和内存
  • 写入存储器(编码)
  • 测量标签在不同频率上的灵敏度
  • 触发外部硬件的GPIO
  • 用户接口USB



PARAMETER

SYMBOL

VALUE

UNIT

Min.

Typ.

Max.

Reading single tag EPC (96 bit)

tEPC

5

ms

Reading single tag EPC (96 bit) + TID (96 bit)

tTID

12

ms

Setting single frequency

tfreq

162

μs

Setting power level

tpower

5

μs

Configure reader for Gen2 command

tcommand

1.1

ms





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