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MicroTEQ-S1拉曼系统

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显微光谱测量系统MicroTEQ-S1MicroTEQ-S1显微光谱测量系统,集成荧光、拉曼和反射光谱测量功能

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显微光谱测量系统 MicroTEQ-S1

MicroTEQ-S1显微光谱测量系统,集成荧光、拉曼和反射光谱测量功能。通过把光谱模块集成到显微镜上,实现显微荧光、拉曼和其他光谱信息的测量。系统由光谱仪、激光器、光源、显微镜等部分构成,自由灵活,帮助用户快速对样品微观结构,微观光谱信息的测试和分析;此外系统可以加装二维电控扫描台,通过软件控制,实现光谱二维扫面测量功能。


应用范围

· 微流控;

· 植物叶片研究;

· 激光材料评价;

· 生物和细胞测试;

· 光子晶体测试;

· 珠宝、古籍检测;

· 纳米材料分析;


拉曼模式

拉曼探头可直接插入显微光谱测试模块中,从而快速实现拉曼光谱测量。支持光谱范围覆盖400-1100nm,仅需通过更换探头和激光器,便可实现488nm532nm633nm785nm激发波长的拉曼光谱测量。


搭配便携式拉曼光谱仪

显微光谱测试模块也能够适配ACCUMAN SR 系列科研级便携拉曼,即插即用的工作模式让您不仅可以实现便携的拉曼光谱测量,还可以更方便地在实验室内实现显微拉曼光谱分析。

其他模式

· 荧光测量显微光谱测量模块内部集成了荧光测试光路,通过SMA905光纤接口与荧光激光器和荧光光谱仪连接。其中连接激光器的SMA905接头,可以改装成为自由空间光作为输入光源,从而得到更强的激发功率或更好的光斑质量。模块中带滤光片插槽,可以放置适配不同激发波长的激发滤光片和发射滤光片,实现不同激发波长的显微荧光测量。

· 颜色和反射测量使用光纤把钨灯光源和显微光谱测量模块连接起来,共用荧光光路,即可实现显微反射光谱测量和显微颜色测量功能。

二维Mapping:选配二维电动平台,使用操作软件设置面扫描采样, 获取一定范围内的逐点扫描光谱数据,可用于表征材料表面微观结构和光谱成像。同时测试结果还可以通过图像绘制的方式呈现出来。

光谱仪配置

拉曼

拉曼

荧光

光谱仪

QEPRO@532nm

QEPRO@785nm

QEPRO-FL

光谱范围

150-4200cm-1@532nm

150-2000cm-1@785nm

300-1050nm

分辨率

~10cm-1@5um狭缝

~6cm-1@5um狭缝

1.5nm@5um狭缝

信噪比

1000:1

 

A/D

18

 

探测器

背照减薄型面阵CCD

 

杂散光

0.08%@600nm

 

线性度

>99%

 

动态范围

85000:1

 

暗噪声

6RMS@18

 

积分时间

8ms-60mins

 

激光器

LASER-532

LASER-785

LASER-405

LASER-450

激光波长

532nm

785nm

405+/-2nm

450+/-2nm

激光功率

0-300mW可调

0-500mW可调

0-200mW可调

0-200mW可调

线宽

<0.2nm

<0.1nm

2nm

2nm

寿命

10000h

10000h

10000h

10000h

拉曼探头

RPB-532

RPB-785

 

 

OD

OD>6

OD>6

 

 

焦距

7.5mm

7.5mm

 

 

激光输入端光纤

100um

 

光谱收集端光纤

200um

 

显微光谱测量模块

Micro-S1

 

光谱范围:400-1100nm

 

显微镜

4组平场消色差物镜:5X,10X,20X,50X

 

5X,数值孔径:0.15,工作距离:10.8mm

 

10X,数值孔径:0.3,工作距离:10mm

 

20X,数值孔径:0.45,工作距离:4mm

 

50X,数值孔径:0.55,工作距离:7.9mm

 

100X,数值孔径:0.8,工作距离:4mm(非标配,可选)

 

1/2”CMOS彩色CCD2048*1536300万像素)

 

载物台面积175mm×145mm,移动范围:76mm×42mm

 

二维电控平移台(可选配)

一体式二维电控平移台,含控制器;

 

行程:50mmx50mm

 

重复定位精度:2um

 

移动分辨率:1um

 


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