二维光热扫描显微镜(ModelPTM-2000)，适用于各类固体表面及亚表面缺陷的检测和分析，特别是各类光学薄膜、光学元器件表面及亚表面吸收缺陷的检测和分析
二维光热扫描显微镜(Model PTM-2000)，适用于各类固体表面及亚表面缺陷的检测和分析，特别是各类光学薄膜、光学元器件表面及亚表面吸收缺陷的检测和分析。本系统是一款非接触式、高分辨率、全自动化检测仪器，可以根据用户具体需求进行紫外、可见或者近红外波段的精密检测和分析。
三维光热扫描显微镜(Model PTM3D-2000)，适用于各类光学元器件及材料体内缺陷的三维检测和分析。本系统是一款非接触式、高分辨率、全自动化检测仪器。
产品特征 1、高灵敏度；
2、高重复精度；
3、一键式操作；
4、样品更换便捷、无需重复校准；
5、可对吸收缺陷进行二维（三维）高分辨率成像；
6、可进行样品或者选定的缺陷点在激光辐照下的稳定性分析；
7、泵浦光源：可以标配，也可根据用户需求选配或者由客户自配。
主要技术参数 | 光热扫描显微镜 | ||
产品类别 | 二维光热扫描显微镜 | 二维光热扫描显微镜 |
型号 | PTM-2000 | PTM3D-2000 |
检测灵敏度 | 0.1 ppm | 0.1 ppm |
检测波长 | 355 nm, 532 nm, 1064 nm或定制波长 | 355 nm, 532 nm, 1064 nm或定制波长 |
| 泵浦激光 | 根据客户需求配置 | 根据客户需求配置 |
横向空间分辨率 | 在适当泵浦光波长条件下可达亚微米分辨率 | 横向3 μm,纵向20 μm |
| 样品尺寸 | 50 mmx50 mm x10 mm | 50 mmx50 mm x10 mm |
注：可以根据客户需求提供同类特制仪器和相关测试的解决方案。
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