牛津仪器电子背散射衍射（EBSD）探测器C-Swift是CMOS探测器家族的新成员，专为常规材料分析和快速样品表征而设计。C-Swift继承了Symmetry的许多优点，包括为EBSD专门定制CMOS传感器。这些优点使得C-Swift也成为一种开创性的EBSD探测器。牛津仪器电子背散射衍射（EB...

详细信息在线询价

牛津仪器电子背散射衍射（EBSD）探测器C-Swift是CMOS探测器家族的新成员，专为常规材料分析和快速样品表征而设计。C-Swift继承了Symmetry的许多优点，包括为EBSD专门定制CMOS传感器。这些优点使得C-Swift也成为一种开创性的EBSD探测器。

牛津仪器电子背散射衍射（EBSD）探测器C-Swift是一个先进、高速EBSD探测器。与Symmetry探测器一样，C-Swift使用定制的CMOS传感器来实现高速和高灵敏度，以确保即使在更具挑战性的材料上也能获得高质量的结果。

C-Swift速度为1000pps，同时可获得高质量的花样分辨率(156x128像素）。这相当于基于CCD的探测器以相似速度运行时所采集花样像素数的4倍，确保所有类型样品的可靠标定和高。无失真光学系统与AZtec软件中强大的标定算法结合，使C-Swift能够提供优于0.05°的高角度精度。对于需要更高质量花样的应用, C-Swift可以以高达250pps的速度采集622x512像素的花样，使其成为复杂的多相样品和精细的相分析的理想选择。

这是专为快速、有效的样品表征而设计的探测器。系统的每个组件，从接近传感器到可选的集成前置探测器，都经过设计, 旨在更大限度地提高性能和易用性, 并使EBSD成为每个实验室的标准工具。

牛津仪器电子背散射衍射（EBSD）探测器C-Swift特点

当速度是关键时，C-Swift探测器达到了一个新标准：

仅需要12nA的电子束流，就能保证1000pps的标定速度
速度下的156x128像素的花样分辨率——同等速度下快速CCD探测器的4倍
全分辨率花样（622x512像素）——精细的相分析和形变分析的理想选择
低失真光学系统, 确保角度精度优于0.05°
优化的高灵敏度荧光屏, 确保低剂量和低束流能量下的高质量的花样——实现的空间分辨率
即使在速度下也能实现无缝的EDS集成
波纹管SEM接口，保持SEM真空完整性
*的接近传感器——在可能发生的碰撞发生之前自动将探测器移动到安全位置
简单直观的探测器设置，确保每次都能获得良好的效果
五个集成的前置探测器, 提供全彩色通道衬度图像和原子序数衬度图像

电子背散射衍射（EBSD）是一种基于扫描电子显微镜（SEM)），提供样品显微结构晶体学信息的技术。在EBSD中，电子束与倾斜的晶态样品相互作用，形成衍射花样。衍射花样可以通过荧光屏探测到，它具有所产生处样品的晶体结构和取向特征。因此，衍射花样可用来确定晶体结构及取向、区分晶体上不同的相、表征晶界、和提供有关局部结晶完整性的信息。

EBSD已成为SEM中的一个出色的附件，常用来提供晶体学信息。EBSD广泛地应用于许多不同的领域，以帮助材料表征，如下表所示。

AZtec EBSD系统结合了EBSD（ Symmetry ）的速度和灵敏度以及 AZtecHKL软件出色的分析性能，为电子背散射衍射（EBSD）和透射菊池衍射（TKD）分析提供了一种功能强大、用途广泛的工具。

行业	材料	典型的EBSD测量
金属研究和加工	金属，合金	晶粒尺寸
航天	金属间化合物	晶界表征
汽车	夹杂物/沉淀物/第二相	体织构
核能	陶瓷	局部织构
微电子	薄膜	CSL晶界表征
地球科学	太阳能电池	再结晶或形变率
科研领域	地质	亚结构分析
	半导体	相鉴定
	超导体	相分数和相分布
	冰	相变
	金属和陶瓷复合材料	断口分析
	骨头，牙齿	晶粒和相间的取向与取向差关系