4200A-SCS系列 4200A-SCS参数分析仪

亲眼见证创新4200A-SCS 是一种可以量身定制、全面集成的参数分析仪，可以同步查看电流电压 ( I - V )、电容电压 ( C - V ) 和超快速脉冲式 I-V 特性。作为性能的参数分析仪，4200A-SCS 加快了半导体、材料和工艺开发速度。

4200A-SCS Clarius^TM 基于 GUI 的软件提供了清楚的、不折不扣的测量和分析功能。凭借嵌入式测量专业知识和数百项随时可以投入使用的应用测试，Clarius Software 可以更深入地挖掘研究过程，快速而又满怀信心。

4200A-SCS 参数分析仪可以根据不同用户需求进行灵活配置，不管是现在还是未来，都可以随时对系统进行升级。通过 4200A-SCS 参数分析仪，通往发现之路现在变得异常简便。

一、 功能

l 参数查看，快速清晰

4200A-SCS 参数分析仪可将检定和测试设置的复杂程度降低高达50%，提供清晰且不折不扣的测量和分析功能。另外，嵌入式测量专业知识（业界）可提供测试指南并让您对结果充满信心。特点如下：

· 内置测量视频采用英语、中文、日语和韩语

· 使用数百个用户可修改应用测试开始您的测试

· 自动实时参数提取、数据绘图、算数函数

l 测量、 切换、 重复

4200A-CVIV 多通道切换模块自动在 I-V 和 C-V 测量之间切换，无需重新布线或抬起探头端部。与竞争产品不同，四通道 4200A-CVIV 显示器提供本地可视查看，可快速完成测试设置，并在出现错误的结果时轻松排除故障。特点如下：

· 无需重新布线即可将 C-V 测量移动到任何设备终端

· 用户可配置低电流功能

· 个性化输出通道名称

· 查看实时测试状态

l 检定、 自定义、 大化

简单地说，4200A-SCS 可以*自定义且全面升级，您可以对半导体设备、新材料、有源/无源组件、晶片级可靠性、故障分析、电化学或几乎任何类型的样本执行电气检定和评估。特点如下：

· NBTI/PBTI 测试

· 随机电报噪声

· 非易失内存设备

· 稳压器应用测试

l 带分析探测器和低温控制器的集成解决方案

4200A-SCS 参数分析仪支持许多手动和半自动晶片探测器和低温控制器，包括 Cascade MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories、LakeShore Model 336 低温控制器。特点如下：

· “点击”测试定序

· “手动”探测器模式测试探测器功能

· 假探测器模式无需移除命令即可实现调试

l 降低成本并保护您的投资

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