高频（微波）介电常数测试仪（TE空洞共振腔）

仪器简介：

TE空洞共振腔于测量厚度小于0.3mm一下的薄膜，支持5G（第五代移动通信系统），可达40GHz的频率。

有固定的间隙用于插入待测样品，并且在测量稳定性方面优于将样品夹在谐振器中的方法。

可以测量各种材料（例如软样品和脆性样品）的介电常数。

 技术参数：

可测试频率范围： 10G-40GHz

介电常数Epsilon：1-5，   准确度： ±1%，

介电损耗tangent delta：0.01-0.0001，  准确度：±5%

样品形状：片状（厚度0.3mm以下，40mm正方形以上）

符合标准JIS R1641 IPC-TM650 2.5.5.13

拥有多种腔体，每个腔可测一个频点:

 主要特点：

TE空洞共振腔（Cavity Resonator ），专门用于测量厚度小于0.3mm一下的薄膜。

 应用领域： 

主要应用于5G材料，例如薄膜等。

高速数字/微波电路用基底材料 ；滤波器和介电天线用低损耗电介质 ；化学制品； 

薄膜与新材料；半导体材料；电子材料（包括CCL和PCB）

  相关资料

 ·日本AET高频（微波）介电常数分析仪