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XTY5119662 白光干涉仪

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商品编号:XTY5119662 商品名称:白光干涉仪

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详细介绍:

白光干涉仪

技术规格参数
型号 XTY-AE-100M
移动台(mm) 平台尺寸100*100 ,行程13*13
物镜放大倍率 10X 20X 50X
观察与量测范围 0.43*0.32 0.21*0.16 0.088*0.066
光学分辨力(um) 0.9 0.69 0.5
收光角度(Degrees) 17 23 33
工作距离 7.4 4.7 3.4
传感器分辨率 640*480像素
机台重量(kg)/载重kg 20kg/小于1kg
Z轴移动范围 45mm , 手动细调
Z轴位置数字显示器 分辨率1um
倾斜调整平台 双轴/手动调整
  高度测量
测量范围 100(um)(400um ,选配)
量测分辨力 0.1mm
重复精度 ≤ 0.1% (量测高度:>10um)
≤10um(量测高度1um 10um)
≤ 5nm(量测高度:<1um )
量测控制 自动
扫描速度(um/s) 12(zui高)
  光源
光源类型 仪器用卤素(冷)光源
平均使用寿命 1000小时100W 500小时(150W)
光强度调整 自动/手动
  数据处理与显示用计算器
*处理运算屏幕 双核心以上CUP
影像与数据显示屏幕 17 " 双晶屏幕
操作系统 Windows XP(2)
电源与环境要求 AC100 --240 V 50-60Hz
环境震动 VC-C等级以上
  量测与分析软件
量测软件 ImScan量测软件
具VSI/ PVS/PSI 量测模式(PSI量测模式需另选配PSI模块搭配)
PosTopo 分析软件
分析软件 ISO 粗燥度/阶高分析,快速传利业转换和滤波,多样的2D和3D
观测视角圆,外形/面积/体积分析,圆像缩放、标准影像文件格式转换
报表输出,程序教导量测等。

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